招遠(yuǎn)熒光分析X射線管哪個品牌好
發(fā)布時間：2024-09-07 02:16:18
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譜線有Ka、Kb、Lb、La和Ma.可供選擇，通常原子序數(shù)小于42的元素用K系線，大于42的元素用L系線，有時亦可選M系線。為了便于獲取待測元素的凈強度，對使用Si-PIN和Si(Li)探測器的譜儀，在解譜時不僅考慮待測元素，還應(yīng)考慮與待測元素譜相近的基體中其他元素，特別是重元素L和M系線的干擾。對于低分辨率譜儀如使用封閉式正比計數(shù)管的譜儀，通常測定純元素譜，并以譜的半高寬左右兩側(cè)的能量作為感興趣區(qū)的起點和終點。
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在波長色散X射線光譜儀中，由于使用分光晶體，是的待測元素的分析譜線可以較好分離，故通過使用分辨率較低的流氣式正比計數(shù)器和NaI閃爍技術(shù)器作為X射線探測器。分光晶體與低分辨率探測器的結(jié)合應(yīng)用，使得波長色散X射線光譜儀的整體分辨率要優(yōu)于使用常規(guī)半導(dǎo)體Si探測器的能量色散X射線光譜儀。
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X射線檢測可以顯示缺陷的形狀、平面位置、性質(zhì)和大小,底片可以長期保留。對于如氣孔、夾渣、縮孔等體積性缺陷,在X射線透照方向有較明顯的厚度差,即使很小的缺陷也較容易檢查出來。而對于如裂紋那樣的面狀缺陷,只有與裂紋方向平行的X射線照射時,才能夠檢查出來,而同裂紋面幾乎垂直的射線照射時,就很難查出。這是因為在照射方向幾乎沒有厚度差的緣故。
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不同元素發(fā)出的特征X射線能量和波長各不相同，因此通過對熒光分析X射線管發(fā)出射線的能量或者波長的測量即可知道它是何種元素發(fā)出的，進行元素的定性分析。同時樣品受激發(fā)后發(fā)射某一元素的特征X射線強度跟這元素在樣品中的含量有關(guān)，因此測出它的強度就能進行元素的定量分析。因此，X射線熒光光譜儀有兩種基本類型：波長色散型（WDEXRF）和能量色散型（EDXRF）。
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X射線熒光光譜校正曲線法要求標(biāo)準(zhǔn)樣和樣品的物理化學(xué)形態(tài)、分析元素的濃度范圍盡可能一致。在許多情況下，分折線強度并不隨著其濃度的增加而增加，需對基體進行校正后，方能繪制工作曲線。早期X射線熒光光譜定量分析主要使用校正曲線方法獲得定量分析結(jié)果，以作圖法制定校正曲線。通常以濃度C,為橫坐標(biāo)，I為縱坐標(biāo)。現(xiàn)在則通過計算機用二乘法進行計算，X射線熒光光譜曲線上各數(shù)據(jù)點與曲線上相對應(yīng)的數(shù)據(jù)偏差的平方和。