葫蘆島結(jié)構(gòu)分析X射線(xiàn)管產(chǎn)地貨源公司
發(fā)布時(shí)間:2024-09-11 02:16:05葫蘆島結(jié)構(gòu)分析X射線(xiàn)管產(chǎn)地貨源公司
三維X射線(xiàn)掃描是以非破壞性X射線(xiàn)透視技術(shù)(簡(jiǎn)稱(chēng)CT),將待測(cè)物體做360°自轉(zhuǎn),通過(guò)單一軸面的結(jié)構(gòu)分析X射線(xiàn)管射線(xiàn)穿透被測(cè)物體,根據(jù)被測(cè)物體各部分對(duì)射線(xiàn)的吸收與透射率不同,收集每個(gè)角度的穿透圖像,之后利用電腦運(yùn)算重構(gòu)出待測(cè)物體的實(shí)體圖像。CT是采用計(jì)算機(jī)斷層掃描技術(shù)對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行無(wú)損檢測(cè)(NDT)和無(wú)損評(píng)價(jià)(NDE)的手段,利用斷層成像技術(shù),可實(shí)現(xiàn)產(chǎn)品無(wú)損可視化測(cè)量、組裝瑕疵或材料分析。CT掃描取代傳統(tǒng)的破壞性監(jiān)測(cè)和分析,任何方向上的非破壞性切片和成像,不受周?chē)?xì)節(jié)特征的遮擋,可直接獲得目標(biāo)特征的空間位置、形狀及尺寸信息。
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樣品室連接樣品進(jìn)給器和分析室,與二者一起組成真空腔。樣品在樣品室里完成樣品的升舉、下降、樣品交換和自旋。濾片的作用是消除可能提高背景或?qū)δ承┰禺a(chǎn)生迭譜干擾的特征譜線(xiàn),從而提高對(duì)這些元素分析的靈敏度。濾波片采用K吸收緣介于元素的Kα和Kβ的波長(zhǎng)之間的材料制成。
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譜線(xiàn)有Ka、Kb、Lb、La和Ma.可供選擇,通常原子序數(shù)小于42的元素用K系線(xiàn),大于42的元素用L系線(xiàn),有時(shí)亦可選M系線(xiàn)。為了便于獲取待測(cè)元素的凈強(qiáng)度,對(duì)使用Si-PIN和Si(Li)探測(cè)器的譜儀,在解譜時(shí)不僅考慮待測(cè)元素,還應(yīng)考慮與待測(cè)元素譜相近的基體中其他元素,特別是重元素L和M系線(xiàn)的干擾。對(duì)于低分辨率譜儀如使用封閉式正比計(jì)數(shù)管的譜儀,通常測(cè)定純?cè)刈V,并以譜的半高寬左右兩側(cè)的能量作為感興趣區(qū)的起點(diǎn)和終點(diǎn)。
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為保證有害元素含量的控制效果,X射線(xiàn)熒光分析儀的測(cè)量數(shù)據(jù)應(yīng)與其他的測(cè)量手段結(jié)合起來(lái)使用;X射線(xiàn)熒光分析儀更適合生產(chǎn)過(guò)程的監(jiān)控,甚至可以說(shuō):在生產(chǎn)過(guò)程中對(duì)有害元素含量的監(jiān)控,X射線(xiàn)熒光分析方法是目前可行的分析手段;而有害元素含量的最終裁定,則不應(yīng)該僅僅依靠單一的測(cè)量手段。