蓬萊結(jié)構(gòu)分析X射線管聯(lián)系電話地址
發(fā)布時間：2024-09-13 02:14:14
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熒光分析曲線斜率的大小與基體的質(zhì)量吸收系數(shù)有關(guān)，也就是說，質(zhì)量吸收系數(shù)越大，斜率越小。同時斜率與特征譜線的波長有關(guān)。小于10nm的短波范圍內(nèi)，斜率居中大于30nm的長波范圍內(nèi)，斜率低在上述兩者之間時斜率低，背景也低，因此分析方法靈敏。若校正曲線通過零點(diǎn)，原則上只要一個標(biāo)準(zhǔn)樣便可確定校正曲線。對于濃度范圍很大的試樣，則至少需要三個以上的標(biāo)準(zhǔn)樣品。
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人頭發(fā)中的極微量元素往往反映出人體的很多內(nèi)在情況，而它們的濃度與病理病態(tài)的關(guān)系研究則是當(dāng)今生物醫(yī)學(xué)的一個重要方面。過去常用原子吸收光譜法分析，但這一方法需要較多的頭發(fā)，且只能用一次（毀壞性的分析方法），每次又只能分析一種元素。現(xiàn)在采用質(zhì)子X射線熒光分析方法，只需要幾根頭發(fā)，用從X射線管發(fā)射的能量為2MeV、流強(qiáng)20hA的質(zhì)子束，照射頭發(fā)樣品約30min，即可得到頭發(fā)中各元素的能譜。
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定向X射線機(jī)其射線管窗口朝向地面，射線管是否位于水平位置不易測量，即使調(diào)整成水平狀態(tài)在射線管升降過程中，其是否保持水平位置也未知，直接影響到中心射線束位置，有效透照區(qū)位置，對于射線管需旋轉(zhuǎn)一定角度的透照，更是無法確認(rèn)旋轉(zhuǎn)后的準(zhǔn)確角度，不利于得到滿意的射線底片。針對這一情況，制作了控制射線管水平位置和旋轉(zhuǎn)角度的簡易工具。
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樣品進(jìn)給器，是樣品進(jìn)入真空系統(tǒng)的一個過渡。因?yàn)闊晒釾射線在空氣中會被衰減，所以樣品分析需要在真空環(huán)境下進(jìn)行。這樣，試樣就需要從大氣狀態(tài)進(jìn)入真空環(huán)境。X射線管的實(shí)質(zhì)是個真空二極管，其陰極是鎢絲，陽極為金屬片。在陰極兩端加上電流之后，鎢絲發(fā)熱，產(chǎn)生熱輻射電子。這些電子在高壓電場作用下被加速，轟擊陽極（又稱靶），產(chǎn)生X射線（此過程產(chǎn)生大量熱量，為了保護(hù)靶材，須確保循環(huán)水系統(tǒng)工作正常）。
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物質(zhì)結(jié)構(gòu)的分析盡管可以采用中子衍射、電子衍射、紅外光譜、穆斯堡爾譜等方法，但是XRD（X射線衍射）是目前研究晶體結(jié)構(gòu)(如原子或離子及其基團(tuán)的種類和位置分布，晶胞形狀和大小等)有力的方法，而且X射線衍射是人類用來研究物質(zhì)微觀結(jié)構(gòu)的一種方法。X射線衍射的應(yīng)用范圍非常廣泛，現(xiàn)已滲透到物理、化學(xué)、地球科學(xué)、材料科學(xué)以及各種工程技術(shù)科學(xué)中，成為一種重要的實(shí)驗(yàn)方法和結(jié)構(gòu)分析手段，具有無損試樣的優(yōu)點(diǎn)。
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在測量不規(guī)則的樣品時，雖然從X射線熒光分析方法上可以對測量進(jìn)行技術(shù)上的校正，從而滿足實(shí)際測量的需要；但這樣做所付出的代價(jià)是犧牲測量精度和測量數(shù)據(jù)的可靠性。X射線熒光實(shí)際上又是一個表面分析方法，激發(fā)只發(fā)生在試樣的淺表面，須注意分析面相對于整個樣品是否有代表性。此外，樣品的平均粒度和粒度分布是否有變化，樣品中是否存在不均勻的多孔狀態(tài)等。樣品制備過程由于經(jīng)過多步驟操作，還須防止樣品的損失和沾污。