汕尾X射線管哪個(gè)品牌好
發(fā)布時(shí)間：2024-09-27 02:13:23
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能量色散光譜儀定量分析條件的選擇與波長(zhǎng)色散光譜儀定量分析條件的選擇相比較，相對(duì)于所用儀器來(lái)說(shuō)要簡(jiǎn)單一些，但能量色散光譜儀種類繁多，如有用二次靶的，也有用偏振光的，它們各有特色，因此應(yīng)在熟悉所用儀器性能的條件下，就其特性選擇適合的分析條件，以滿足分析要求。它的條件選擇主要有提供給X射線管的管壓和管電流、譜線、濾光片的選擇和測(cè)定時(shí)間。
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如用Si-PIN探測(cè)器的譜儀，以Rh靶作為激發(fā)光源，分析水泥中鎂、鋁、硅、硫和鉀時(shí)，選擇4kv,0.6mA,其目的是使高含量鈣不被激發(fā)，而測(cè)鈣、鈦和鐵時(shí)，選擇13kv,0.lmA，并選用200pm鋁作濾光片，除去X射線管發(fā)射的RHL_線，以便降低鋁、硅等元素的X射線熒光強(qiáng)度，從而提高鈣和鐵等元素的X射線熒光強(qiáng)度。
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暗電流是指在有光射在光陽(yáng)極上時(shí)光電倍增管的輸出電流。暗電流的產(chǎn)生是由光陰極表面的熱電子發(fā)射及電極之間的所加電壓而產(chǎn)生的漏電流。因此，降低溫度及降壓都能降低暗電流。光電倍增管的暗電流越小，質(zhì)量越好。
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當(dāng)材料由多種結(jié)晶成分組成，需區(qū)分各成分所占比例，可使用XRD物相鑒定功能，分析各結(jié)晶相的比例。很多材料的性能由結(jié)晶程度決定，可使用結(jié)構(gòu)分析X射線管XRD結(jié)晶度分析，確定材料的結(jié)晶程度。新材料開發(fā)需要充分了解材料的晶格參數(shù)，使用XRD可快捷測(cè)試出點(diǎn)陣參數(shù)，為新材料開發(fā)應(yīng)用提供性能驗(yàn)證指標(biāo)。產(chǎn)品在使用過(guò)程中出現(xiàn)斷裂、變形等失效現(xiàn)象，可能涉及微觀應(yīng)力方面影響，使用XRD可以快捷測(cè)定微觀應(yīng)力。納米材料由于顆粒細(xì)小,極易形成團(tuán)粒,采用通常的粒度分析儀往往會(huì)給出錯(cuò)誤的數(shù)據(jù)。采用X射線衍射線線寬法(謝樂(lè)法)可以測(cè)定納米粒子的平均粒徑。