廣州X射線管廠家供應(yīng)
發(fā)布時間：2024-09-30 02:12:52
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X射線衍射儀技術(shù)，通過對材料進(jìn)行X射線衍射，分析其衍射圖譜，獲得材料的成分、材料內(nèi)部原子或分子的結(jié)構(gòu)或形態(tài)等信息的研究手段。X射線衍射分析法是研究物質(zhì)的物相和晶體結(jié)構(gòu)的主要方法。當(dāng)某物質(zhì)(晶體或非晶體)進(jìn)行衍射分析時,該物質(zhì)被X射線照射產(chǎn)生不同程度的衍射現(xiàn)象,物質(zhì)組成、晶型、分子內(nèi)成鍵方式、分子的構(gòu)型、構(gòu)象等決定該物質(zhì)產(chǎn)生的衍射圖譜。X射線衍射方法具有不損傷樣品、快捷、測量精度高、能得到有關(guān)晶體完整性的大量信息等優(yōu)點(diǎn)。因此,X射線衍射分析法作為材料結(jié)構(gòu)和成分分析的一種現(xiàn)代科學(xué)方法,已逐步在各學(xué)科研究和生產(chǎn)中廣泛應(yīng)用。
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初期的X射線探測器是無能量分辨能力的蓋革計(jì)數(shù)器，現(xiàn)在已發(fā)展處了多種類型、不同用途，并具有幾號分辨率的各種X射線探測器。特別是近幾年，隨著太空探測技術(shù)和超導(dǎo)材料研究的進(jìn)步，X射線能量探測器技術(shù)取得了顯著的進(jìn)展。目前除了正比計(jì)數(shù)器、閃爍計(jì)數(shù)器及Si（Li）探測器等廣泛應(yīng)用于各種商用儀器外，各種基于半導(dǎo)體原理及超導(dǎo)性等制成的能量探測器也取得了顯著進(jìn)步。
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XY7熒光分析X射線管是一種低能多用途側(cè)窗型X射線管。它在對封裝和管芯進(jìn)一步改進(jìn)升級。采用不銹鋼外殼內(nèi)襯鉛；內(nèi)灌絕緣油用于高壓絕緣和冷卻。此類X射線管陽極接高壓，陰極接地。該類X射線管可以替代進(jìn)口同類產(chǎn)品在相應(yīng)的儀器上使用。
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X射線管是X射線機(jī)中的主要元件，是一個高真空器件。現(xiàn)在所使用的熱陰極電子X射線管，其基本原理是利用陰極的熱發(fā)射電子束在高壓電場的作用下高速飛向陽極靶面，靶面受電子轟擊，產(chǎn)生X線。醫(yī)用X線管，按用途可分為診斷用X射線管和治療用x射線管。兩種X射線管的原理基本一致，易震裂，存放時間較長時，各電極可能有自然出氣現(xiàn)象，使用前須對它進(jìn)行仔細(xì)的檢查和實(shí)驗(yàn)。
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電磁輻射激發(fā)X熒光分析，簡稱EDXRF。電磁輻射激發(fā)一般用X射線管或X射線熒光分析Fe、238Pu、X射線熒光分析Cd、241、X射線熒光分析Co等放射性同位素作激發(fā)源。這時它的探測極限雖不及PIXE，但制樣簡便，常常可以直接分析原始樣品，而且既能分析低含量樣品，又能分析高含量樣品，因此應(yīng)用更為廣泛。
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熒光分析X射線管在X射線熒光光譜測定痕量元素時，若背景能準(zhǔn)確扣除，也可強(qiáng)制通過零點(diǎn)，以便獲得更準(zhǔn)確的結(jié)果。其數(shù)學(xué)表達(dá)式表示為Ci=EiLi+Di式中E和D分別代表曲線的斜率和截距，D的單位是濃度，E的倒數(shù)是方法的靈敏度C,是待測元素i的濃度i,是待測元素的強(qiáng)度，校正曲線以直線表示為好，也可用二次曲線，只是用二次曲線需要較多的標(biāo)樣，且可能存在危險(xiǎn)，故建議盡可能少用。使用X射線熒光光譜時，我們通常希望曲線的斜率陡一些，這樣在濃度變化很小時，分析線強(qiáng)度變化很大。