錦州結(jié)構(gòu)分析X射線管廠家供應(yīng)
發(fā)布時(shí)間：2024-10-09 02:10:24
錦州結(jié)構(gòu)分析X射線管廠家供應(yīng)
光電倍增管的靈敏度有兩種，一種是陰極靈敏度，另一種是陽極靈敏度。陰極靈敏度是指單位光輻射在光陰極上產(chǎn)生光電流的大小，它是由所用光陰極材料決定的。陽極靈敏度是指光電倍增管在一定外加電壓作用下單位光輻射產(chǎn)生的陽極輸出電流。陽極靈敏度是隨著外加電壓大小而改變的。這兩種靈敏度是選用PMT的重要參數(shù)。
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當(dāng)材料由多種結(jié)晶成分組成，需區(qū)分各成分所占比例，可使用XRD物相鑒定功能，分析各結(jié)晶相的比例。很多材料的性能由結(jié)晶程度決定，可使用結(jié)構(gòu)分析X射線管XRD結(jié)晶度分析，確定材料的結(jié)晶程度。新材料開發(fā)需要充分了解材料的晶格參數(shù)，使用XRD可快捷測(cè)試出點(diǎn)陣參數(shù)，為新材料開發(fā)應(yīng)用提供性能驗(yàn)證指標(biāo)。產(chǎn)品在使用過程中出現(xiàn)斷裂、變形等失效現(xiàn)象，可能涉及微觀應(yīng)力方面影響，使用XRD可以快捷測(cè)定微觀應(yīng)力。納米材料由于顆粒細(xì)小,極易形成團(tuán)粒,采用通常的粒度分析儀往往會(huì)給出錯(cuò)誤的數(shù)據(jù)。采用X射線衍射線線寬法(謝樂法)可以測(cè)定納米粒子的平均粒徑。
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衍射儀是進(jìn)行X射線分析的重要設(shè)備，主要由X射線發(fā)生器、測(cè)角儀、記錄儀和水冷卻系統(tǒng)組成。新型的衍射儀還帶有條件輸入和數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)。X射線發(fā)生器由高壓變壓器及管流管壓控制單元、結(jié)構(gòu)分析X射線管、熱交換器。產(chǎn)生高穩(wěn)定的高壓加到X射線管上用以產(chǎn)生X射線。這里利用高電壓加速的高速電子轟擊X射線管金屬靶面產(chǎn)生X射線的原理。
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電磁輻射激發(fā)X熒光分析，簡(jiǎn)稱EDXRF。電磁輻射激發(fā)一般用X射線管或X射線熒光分析Fe、238Pu、X射線熒光分析Cd、241、X射線熒光分析Co等放射性同位素作激發(fā)源。這時(shí)它的探測(cè)極限雖不及PIXE，但制樣簡(jiǎn)便，常?？梢灾苯臃治鲈紭悠?，而且既能分析低含量樣品，又能分析高含量樣品，因此應(yīng)用更為廣泛。
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X射線熒光光譜校正曲線法要求標(biāo)準(zhǔn)樣和樣品的物理化學(xué)形態(tài)、分析元素的濃度范圍盡可能一致。在許多情況下，分折線強(qiáng)度并不隨著其濃度的增加而增加，需對(duì)基體進(jìn)行校正后，方能繪制工作曲線。早期X射線熒光光譜定量分析主要使用校正曲線方法獲得定量分析結(jié)果，以作圖法制定校正曲線。通常以濃度C,為橫坐標(biāo)，I為縱坐標(biāo)?，F(xiàn)在則通過計(jì)算機(jī)用二乘法進(jìn)行計(jì)算，X射線熒光光譜曲線上各數(shù)據(jù)點(diǎn)與曲線上相對(duì)應(yīng)的數(shù)據(jù)偏差的平方和。