淄博結(jié)構(gòu)分析X射線管產(chǎn)地貨源公司
發(fā)布時間：2024-10-14 02:09:10
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不同元素發(fā)出的特征X射線能量和波長各不相同，因此通過對熒光分析X射線管發(fā)出射線的能量或者波長的測量即可知道它是何種元素發(fā)出的，進(jìn)行元素的定性分析。同時樣品受激發(fā)后發(fā)射某一元素的特征X射線強(qiáng)度跟這元素在樣品中的含量有關(guān)，因此測出它的強(qiáng)度就能進(jìn)行元素的定量分析。因此，X射線熒光光譜儀有兩種基本類型：波長色散型（WDEXRF）和能量色散型（EDXRF）。
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X射線管組件是將X射線管與一些外圍的零件組合而成的一個部件，外圍零件通常會有屏蔽射線的鉛筒、如果是旋轉(zhuǎn)陽極的，還會有旋轉(zhuǎn)陽極的靜子、高壓電纜接口、絕緣油、防止因?yàn)闇囟茸兓?，油的體積變化產(chǎn)生過大壓力的膨脹器、密封的金屬外殼等。X射線管組件的外殼是零電位的。
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X射線熒光光譜校正曲線法要求標(biāo)準(zhǔn)樣和樣品的物理化學(xué)形態(tài)、分析元素的濃度范圍盡可能一致。在許多情況下，分折線強(qiáng)度并不隨著其濃度的增加而增加，需對基體進(jìn)行校正后，方能繪制工作曲線。早期X射線熒光光譜定量分析主要使用校正曲線方法獲得定量分析結(jié)果，以作圖法制定校正曲線。通常以濃度C,為橫坐標(biāo)，I為縱坐標(biāo)?，F(xiàn)在則通過計(jì)算機(jī)用二乘法進(jìn)行計(jì)算，X射線熒光光譜曲線上各數(shù)據(jù)點(diǎn)與曲線上相對應(yīng)的數(shù)據(jù)偏差的平方和。
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熒光分析曲線斜率的大小與基體的質(zhì)量吸收系數(shù)有關(guān)，也就是說，質(zhì)量吸收系數(shù)越大，斜率越小。同時斜率與特征譜線的波長有關(guān)。小于10nm的短波范圍內(nèi)，斜率居中大于30nm的長波范圍內(nèi)，斜率低在上述兩者之間時斜率低，背景也低，因此分析方法靈敏。若校正曲線通過零點(diǎn)，原則上只要一個標(biāo)準(zhǔn)樣便可確定校正曲線。對于濃度范圍很大的試樣，則至少需要三個以上的標(biāo)準(zhǔn)樣品。
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X射線探測器的作用是將X射線光子的能量轉(zhuǎn)換成易于測量的電信號。在入射X射線與探測器活性材料的相互作用下產(chǎn)生光電子，由這些光電子形成的電流經(jīng)電容和電阻產(chǎn)生脈沖典雅，脈沖典雅的大小與X射線光子的能量成正比，好的探測器經(jīng)常要求兩字計(jì)數(shù)效率和分辨率高，線性和正比性好。