鶴山X射線管哪個(gè)品牌好
發(fā)布時(shí)間：2024-10-18 02:09:31
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譜線有Ka、Kb、Lb、La和Ma.可供選擇，通常原子序數(shù)小于42的元素用K系線，大于42的元素用L系線，有時(shí)亦可選M系線。為了便于獲取待測(cè)元素的凈強(qiáng)度，對(duì)使用Si-PIN和Si(Li)探測(cè)器的譜儀，在解譜時(shí)不僅考慮待測(cè)元素，還應(yīng)考慮與待測(cè)元素譜相近的基體中其他元素，特別是重元素L和M系線的干擾。對(duì)于低分辨率譜儀如使用封閉式正比計(jì)數(shù)管的譜儀，通常測(cè)定純?cè)刈V，并以譜的半高寬左右兩側(cè)的能量作為感興趣區(qū)的起點(diǎn)和終點(diǎn)。
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熒光分析曲線斜率的大小與基體的質(zhì)量吸收系數(shù)有關(guān)，也就是說(shuō)，質(zhì)量吸收系數(shù)越大，斜率越小。同時(shí)斜率與特征譜線的波長(zhǎng)有關(guān)。小于10nm的短波范圍內(nèi)，斜率居中大于30nm的長(zhǎng)波范圍內(nèi)，斜率低在上述兩者之間時(shí)斜率低，背景也低，因此分析方法靈敏。若校正曲線通過(guò)零點(diǎn)，原則上只要一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)樣便可確定校正曲線。對(duì)于濃度范圍很大的試樣，則至少需要三個(gè)以上的標(biāo)準(zhǔn)樣品。
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X射線熒光光譜法是一個(gè)相對(duì)分析方法，任何制樣過(guò)程和步驟須有非常好的重復(fù)操作可能性；用于制作校準(zhǔn)曲線的標(biāo)準(zhǔn)樣品和分析樣品須經(jīng)過(guò)同樣的制樣處理過(guò)程。X射線熒光分析儀從根本上來(lái)說(shuō)是一種相對(duì)測(cè)量?jī)x器，因此在使用過(guò)程中，需要定期對(duì)儀器進(jìn)行標(biāo)定和校準(zhǔn)。
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質(zhì)子X(jué)射線熒光分析技術(shù)由于能夠在非真空條件下分析含量少、濃度低的元素，并且一次可同時(shí)分析多種元素，靈敏度高，隨原子序數(shù)增大不會(huì)發(fā)生突變，屬于可以定量和定標(biāo)的非破壞性快速分析技術(shù)，在環(huán)境污染的監(jiān)測(cè)、生物和醫(yī)學(xué)樣品的分析、考古研究及超重元素探測(cè)等方面都發(fā)揮了重要的作用。
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衍射儀是進(jìn)行X射線分析的重要設(shè)備，主要由X射線發(fā)生器、測(cè)角儀、記錄儀和水冷卻系統(tǒng)組成。新型的衍射儀還帶有條件輸入和數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)。X射線發(fā)生器由高壓變壓器及管流管壓控制單元、結(jié)構(gòu)分析X射線管、熱交換器。產(chǎn)生高穩(wěn)定的高壓加到X射線管上用以產(chǎn)生X射線。這里利用高電壓加速的高速電子轟擊X射線管金屬靶面產(chǎn)生X射線的原理。