深圳熒光分析X射線管產(chǎn)地貨源公司
發(fā)布時(shí)間：2024-11-03 02:06:23
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XY7熒光分析X射線管是一種低能多用途側(cè)窗型X射線管。它在對封裝和管芯進(jìn)一步改進(jìn)升級。采用不銹鋼外殼內(nèi)襯鉛；內(nèi)灌絕緣油用于高壓絕緣和冷卻。此類X射線管陽極接高壓，陰極接地。該類X射線管可以替代進(jìn)口同類產(chǎn)品在相應(yīng)的儀器上使用。
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X射線在物質(zhì)中的穿透能力較大,故能測量較厚樣品中的元素平均含量。熒光分析X射線管當(dāng)使用放射性同位素作激發(fā)源時(shí)能夠制成便攜式的儀器，不僅可用于實(shí)驗(yàn)室，還可以用于工廠、野外地質(zhì)和礦山。當(dāng)使用電子同步加速器或電子儲存環(huán)發(fā)出的高強(qiáng)度偏振輻射作激發(fā)源時(shí)，探測極限比PIXE好幾個(gè)數(shù)量級。若再使用晶體單色器，還可以制成同步輻射X射線微探針，進(jìn)行微區(qū)分析。
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由于來自X光管的X射線不僅照射到分析樣品上，也會照射到樣品盒及樣品罩上。而產(chǎn)生來自樣品盒或罩上的不需要的熒光射線，從而影響分析精度，因此使用了光闌系統(tǒng)來保證只允許來自分析樣品的熒光X射線進(jìn)入計(jì)數(shù)器。來自樣品的熒光X射線和散射線都不是單一方向的，入射狹縫裝在樣品和分光晶體之間，它只允許指向分光晶體方向的熒光X射線通過，而吸收其它方向的射線，從而提高了光譜分辨率。
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X射線熒光光譜法是一個(gè)相對分析方法，任何制樣過程和步驟須有非常好的重復(fù)操作可能性；用于制作校準(zhǔn)曲線的標(biāo)準(zhǔn)樣品和分析樣品須經(jīng)過同樣的制樣處理過程。X射線熒光分析儀從根本上來說是一種相對測量儀器，因此在使用過程中，需要定期對儀器進(jìn)行標(biāo)定和校準(zhǔn)。
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為了滿足現(xiàn)代企業(yè)管理和生產(chǎn)要求，須對生產(chǎn)過程中的原材料的化學(xué)成分進(jìn)行及時(shí)、準(zhǔn)確的分析和控制，傳統(tǒng)的化學(xué)分析方法已經(jīng)完全不能滿足生產(chǎn)過程的需要。目前眾多新型冶煉企業(yè)為了達(dá)到良好的質(zhì)量控制指標(biāo)，大都配備了相應(yīng)的分析儀。由于化學(xué)分析方法分析速度的限制，實(shí)際上，采用化學(xué)分析方法對于生產(chǎn)過程來說只有事后監(jiān)測的意義，而沒有控制意義，往往是當(dāng)我們發(fā)現(xiàn)某個(gè)控制環(huán)節(jié)有問題時(shí)，已經(jīng)造成了嚴(yán)重的后果，給工廠帶來了很大的損失。
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選擇二次靶和偏振光也是為了進(jìn)行有選擇的激發(fā)，并降低背景。對于封閉式正比計(jì)數(shù)管為探測器的低分辨率光譜儀，管壓和管流選擇也是很重要的，如測定水泥原材料，用Cu靶，3盧um厚的Sn濾光片，測Si,A1,S時(shí)也用4kv,0.6mA,而測Ca和Fe時(shí)則用10kv,0.06mA.