招遠(yuǎn)結(jié)構(gòu)分析X射線管生產(chǎn)廠家
發(fā)布時間：2024-11-06 02:07:52
招遠(yuǎn)結(jié)構(gòu)分析X射線管生產(chǎn)廠家
熒光分析X射線是確定物質(zhì)中微量元素的種類和含量的一種方法。它用熒光分析X射線管輻射激發(fā)待分析樣品中的原子，使原子發(fā)出標(biāo)識X射線（熒光），通過測量這些標(biāo)識X射線的能量和強(qiáng)度來確定物質(zhì)中微量元素的種類和含量。根據(jù)激發(fā)源的不同，可分成帶電粒子激發(fā)X熒光分析，電磁輻射激發(fā)X熒光分析和電子激發(fā)X熒光分析。
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初期的X射線探測器是無能量分辨能力的蓋革計數(shù)器，現(xiàn)在已發(fā)展處了多種類型、不同用途，并具有幾號分辨率的各種X射線探測器。特別是近幾年，隨著太空探測技術(shù)和超導(dǎo)材料研究的進(jìn)步，X射線能量探測器技術(shù)取得了顯著的進(jìn)展。目前除了正比計數(shù)器、閃爍計數(shù)器及Si（Li）探測器等廣泛應(yīng)用于各種商用儀器外，各種基于半導(dǎo)體原理及超導(dǎo)性等制成的能量探測器也取得了顯著進(jìn)步。
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X射線熒光光譜法是一個相對分析方法，任何制樣過程和步驟須有非常好的重復(fù)操作可能性；用于制作校準(zhǔn)曲線的標(biāo)準(zhǔn)樣品和分析樣品須經(jīng)過同樣的制樣處理過程。X射線熒光分析儀從根本上來說是一種相對測量儀器，因此在使用過程中，需要定期對儀器進(jìn)行標(biāo)定和校準(zhǔn)。
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由于來自X光管的X射線不僅照射到分析樣品上，也會照射到樣品盒及樣品罩上。而產(chǎn)生來自樣品盒或罩上的不需要的熒光射線，從而影響分析精度，因此使用了光闌系統(tǒng)來保證只允許來自分析樣品的熒光X射線進(jìn)入計數(shù)器。來自樣品的熒光X射線和散射線都不是單一方向的，入射狹縫裝在樣品和分光晶體之間，它只允許指向分光晶體方向的熒光X射線通過，而吸收其它方向的射線，從而提高了光譜分辨率。
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在測量不規(guī)則的樣品時，雖然從X射線熒光分析方法上可以對測量進(jìn)行技術(shù)上的校正，從而滿足實際測量的需要；但這樣做所付出的代價是犧牲測量精度和測量數(shù)據(jù)的可靠性。X射線熒光實際上又是一個表面分析方法，激發(fā)只發(fā)生在試樣的淺表面，須注意分析面相對于整個樣品是否有代表性。此外，樣品的平均粒度和粒度分布是否有變化，樣品中是否存在不均勻的多孔狀態(tài)等。樣品制備過程由于經(jīng)過多步驟操作，還須防止樣品的損失和沾污。