東莞安檢X射線管生產(chǎn)廠家
發(fā)布時(shí)間:2024-11-08 02:07:37東莞安檢X射線管生產(chǎn)廠家
衍射儀是進(jìn)行X射線分析的重要設(shè)備,主要由X射線發(fā)生器、測(cè)角儀、記錄儀和水冷卻系統(tǒng)組成。新型的衍射儀還帶有條件輸入和數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)。X射線發(fā)生器由高壓變壓器及管流管壓控制單元、結(jié)構(gòu)分析X射線管、熱交換器。產(chǎn)生高穩(wěn)定的高壓加到X射線管上用以產(chǎn)生X射線。這里利用高電壓加速的高速電子轟擊X射線管金屬靶面產(chǎn)生X射線的原理。
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X射線探測(cè)器的作用是將X射線光子的能量轉(zhuǎn)換成易于測(cè)量的電信號(hào)。在入射X射線與探測(cè)器活性材料的相互作用下產(chǎn)生光電子,由這些光電子形成的電流經(jīng)電容和電阻產(chǎn)生脈沖典雅,脈沖典雅的大小與X射線光子的能量成正比,好的探測(cè)器經(jīng)常要求兩字計(jì)數(shù)效率和分辨率高,線性和正比性好。
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三維X射線掃描是以非破壞性X射線透視技術(shù)(簡稱CT),將待測(cè)物體做360°自轉(zhuǎn),通過單一軸面的結(jié)構(gòu)分析X射線管射線穿透被測(cè)物體,根據(jù)被測(cè)物體各部分對(duì)射線的吸收與透射率不同,收集每個(gè)角度的穿透圖像,之后利用電腦運(yùn)算重構(gòu)出待測(cè)物體的實(shí)體圖像。CT是采用計(jì)算機(jī)斷層掃描技術(shù)對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行無損檢測(cè)(NDT)和無損評(píng)價(jià)(NDE)的手段,利用斷層成像技術(shù),可實(shí)現(xiàn)產(chǎn)品無損可視化測(cè)量、組裝瑕疵或材料分析。CT掃描取代傳統(tǒng)的破壞性監(jiān)測(cè)和分析,任何方向上的非破壞性切片和成像,不受周圍細(xì)節(jié)特征的遮擋,可直接獲得目標(biāo)特征的空間位置、形狀及尺寸信息。
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結(jié)構(gòu)分析X射線管高穩(wěn)定度X射線源提供測(cè)量所需的X射線,改變X射線管陽極靶材質(zhì)可改變X射線的波長,調(diào)節(jié)陽極電壓可控制X射線源的強(qiáng)度。樣品及樣品位置取向的調(diào)整機(jī)構(gòu)系統(tǒng)樣品須是單晶、粉末、多晶或微晶的固體塊。射線檢測(cè)器檢測(cè)衍射強(qiáng)度或同時(shí)檢測(cè)衍射方向,通過儀器測(cè)量記錄系統(tǒng)或計(jì)算機(jī)處理系統(tǒng)可以得到多晶衍射圖譜數(shù)據(jù)。
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在波長色散X射線光譜儀中,由于使用分光晶體,是的待測(cè)元素的分析譜線可以較好分離,故通過使用分辨率較低的流氣式正比計(jì)數(shù)器和NaI閃爍技術(shù)器作為X射線探測(cè)器。分光晶體與低分辨率探測(cè)器的結(jié)合應(yīng)用,使得波長色散X射線光譜儀的整體分辨率要優(yōu)于使用常規(guī)半導(dǎo)體Si探測(cè)器的能量色散X射線光譜儀。