山東結(jié)構(gòu)分析X射線管商品批發(fā)價(jià)格
發(fā)布時(shí)間：2024-11-09 02:08:23
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譜線有Ka、Kb、Lb、La和Ma.可供選擇，通常原子序數(shù)小于42的元素用K系線，大于42的元素用L系線，有時(shí)亦可選M系線。為了便于獲取待測(cè)元素的凈強(qiáng)度，對(duì)使用Si-PIN和Si(Li)探測(cè)器的譜儀，在解譜時(shí)不僅考慮待測(cè)元素，還應(yīng)考慮與待測(cè)元素譜相近的基體中其他元素，特別是重元素L和M系線的干擾。對(duì)于低分辨率譜儀如使用封閉式正比計(jì)數(shù)管的譜儀，通常測(cè)定純?cè)刈V，并以譜的半高寬左右兩側(cè)的能量作為感興趣區(qū)的起點(diǎn)和終點(diǎn)。
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在測(cè)量不規(guī)則的樣品時(shí)，雖然從X射線熒光分析方法上可以對(duì)測(cè)量進(jìn)行技術(shù)上的校正，從而滿足實(shí)際測(cè)量的需要；但這樣做所付出的代價(jià)是犧牲測(cè)量精度和測(cè)量數(shù)據(jù)的可靠性。X射線熒光實(shí)際上又是一個(gè)表面分析方法，激發(fā)只發(fā)生在試樣的淺表面，須注意分析面相對(duì)于整個(gè)樣品是否有代表性。此外，樣品的平均粒度和粒度分布是否有變化，樣品中是否存在不均勻的多孔狀態(tài)等。樣品制備過程由于經(jīng)過多步驟操作，還須防止樣品的損失和沾污。
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暗電流是指在有光射在光陽(yáng)極上時(shí)光電倍增管的輸出電流。暗電流的產(chǎn)生是由光陰極表面的熱電子發(fā)射及電極之間的所加電壓而產(chǎn)生的漏電流。因此，降低溫度及降壓都能降低暗電流。光電倍增管的暗電流越小，質(zhì)量越好。
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近幾年出臺(tái)的《射線裝置分類》進(jìn)一步明確了射線裝置對(duì)人體健康和環(huán)境的潛在危害，有利于讓公眾進(jìn)一步了解射線裝置，破除相關(guān)謠言，消除不必要的恐慌。根據(jù)射線裝置對(duì)人體健康和環(huán)境的潛在危害程度，《射線裝置分類》從高到低把射線裝置分為Ⅰ類、Ⅱ類、Ⅲ類
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由于同步輻射具有強(qiáng)度高、準(zhǔn)直好、偏振性、波長(zhǎng)連續(xù)可調(diào)等優(yōu)點(diǎn)，使得同步輻射X射線熒光分析比常規(guī)X射線熒光分析，具有更高的靈敏度和更小的微區(qū)分析能力，可以解決一些常規(guī)X光源不能解決的科研和實(shí)際應(yīng)用問題?？梢赃M(jìn)行各種材料的微區(qū)、微量元素的無損成分分析，譜的信噪比與改造前的白光譜相比提高了近兩個(gè)數(shù)量級(jí)。
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熒光分析X射線是確定物質(zhì)中微量元素的種類和含量的一種方法。它用熒光分析X射線管輻射激發(fā)待分析樣品中的原子，使原子發(fā)出標(biāo)識(shí)X射線（熒光），通過測(cè)量這些標(biāo)識(shí)X射線的能量和強(qiáng)度來確定物質(zhì)中微量元素的種類和含量。根據(jù)激發(fā)源的不同，可分成帶電粒子激發(fā)X熒光分析，電磁輻射激發(fā)X熒光分析和電子激發(fā)X熒光分析。