中山熒光分析X射線管廠家供應(yīng)
發(fā)布時(shí)間：2024-11-14 02:07:08
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X射線管組件是將X射線管與一些外圍的零件組合而成的一個(gè)部件，外圍零件通常會(huì)有屏蔽射線的鉛筒、如果是旋轉(zhuǎn)陽極的，還會(huì)有旋轉(zhuǎn)陽極的靜子、高壓電纜接口、絕緣油、防止因?yàn)闇囟茸兓?，油的體積變化產(chǎn)生過大壓力的膨脹器、密封的金屬外殼等。X射線管組件的外殼是零電位的。
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當(dāng)材料由多種結(jié)晶成分組成，需區(qū)分各成分所占比例，可使用XRD物相鑒定功能，分析各結(jié)晶相的比例。很多材料的性能由結(jié)晶程度決定，可使用結(jié)構(gòu)分析X射線管XRD結(jié)晶度分析，確定材料的結(jié)晶程度。新材料開發(fā)需要充分了解材料的晶格參數(shù)，使用XRD可快捷測(cè)試出點(diǎn)陣參數(shù)，為新材料開發(fā)應(yīng)用提供性能驗(yàn)證指標(biāo)。產(chǎn)品在使用過程中出現(xiàn)斷裂、變形等失效現(xiàn)象，可能涉及微觀應(yīng)力方面影響，使用XRD可以快捷測(cè)定微觀應(yīng)力。納米材料由于顆粒細(xì)小,極易形成團(tuán)粒,采用通常的粒度分析儀往往會(huì)給出錯(cuò)誤的數(shù)據(jù)。采用X射線衍射線線寬法(謝樂法)可以測(cè)定納米粒子的平均粒徑。
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X射線熒光光譜法是一個(gè)相對(duì)分析方法，任何制樣過程和步驟須有非常好的重復(fù)操作可能性；用于制作校準(zhǔn)曲線的標(biāo)準(zhǔn)樣品和分析樣品須經(jīng)過同樣的制樣處理過程。X射線熒光分析儀從根本上來說是一種相對(duì)測(cè)量?jī)x器，因此在使用過程中，需要定期對(duì)儀器進(jìn)行標(biāo)定和校準(zhǔn)。
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選擇二次靶和偏振光也是為了進(jìn)行有選擇的激發(fā)，并降低背景。對(duì)于封閉式正比計(jì)數(shù)管為探測(cè)器的低分辨率光譜儀，管壓和管流選擇也是很重要的，如測(cè)定水泥原材料，用Cu靶，3盧um厚的Sn濾光片，測(cè)Si,A1,S時(shí)也用4kv,0.6mA,而測(cè)Ca和Fe時(shí)則用10kv,0.06mA.
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為了滿足現(xiàn)代企業(yè)管理和生產(chǎn)要求，須對(duì)生產(chǎn)過程中的原材料的化學(xué)成分進(jìn)行及時(shí)、準(zhǔn)確的分析和控制，傳統(tǒng)的化學(xué)分析方法已經(jīng)完全不能滿足生產(chǎn)過程的需要。目前眾多新型冶煉企業(yè)為了達(dá)到良好的質(zhì)量控制指標(biāo)，大都配備了相應(yīng)的分析儀。由于化學(xué)分析方法分析速度的限制，實(shí)際上，采用化學(xué)分析方法對(duì)于生產(chǎn)過程來說只有事后監(jiān)測(cè)的意義，而沒有控制意義，往往是當(dāng)我們發(fā)現(xiàn)某個(gè)控制環(huán)節(jié)有問題時(shí)，已經(jīng)造成了嚴(yán)重的后果，給工廠帶來了很大的損失。
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結(jié)構(gòu)分析X射線管高穩(wěn)定度X射線源提供測(cè)量所需的X射線,改變X射線管陽極靶材質(zhì)可改變X射線的波長(zhǎng),調(diào)節(jié)陽極電壓可控制X射線源的強(qiáng)度。樣品及樣品位置取向的調(diào)整機(jī)構(gòu)系統(tǒng)樣品須是單晶、粉末、多晶或微晶的固體塊。射線檢測(cè)器檢測(cè)衍射強(qiáng)度或同時(shí)檢測(cè)衍射方向,通過儀器測(cè)量記錄系統(tǒng)或計(jì)算機(jī)處理系統(tǒng)可以得到多晶衍射圖譜數(shù)據(jù)。