遼陽熒光分析X射線管制造商哪家好
發(fā)布時間：2024-11-18 02:05:55
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如用Si-PIN探測器的譜儀，以Rh靶作為激發(fā)光源，分析水泥中鎂、鋁、硅、硫和鉀時，選擇4kv,0.6mA,其目的是使高含量鈣不被激發(fā)，而測鈣、鈦和鐵時，選擇13kv,0.lmA，并選用200pm鋁作濾光片，除去X射線管發(fā)射的RHL_線，以便降低鋁、硅等元素的X射線熒光強度，從而提高鈣和鐵等元素的X射線熒光強度。
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對城市空氣質(zhì)量的監(jiān)測是環(huán)境保護的一項重要工作。質(zhì)子X射線熒光分析技術在這方面同樣可以發(fā)揮它的作用。在對大氣污染的分析過程中，由于該分析技術可直接對采集在濾膜上的大氣顆粒物樣品進行測量，不需要進行化學處理，避免了化學處理過程中可能引起的元素污染或丟失，能很好地保持樣品中元素濃度固有的相關性。
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初期的X射線探測器是無能量分辨能力的蓋革計數(shù)器，現(xiàn)在已發(fā)展處了多種類型、不同用途，并具有幾號分辨率的各種X射線探測器。特別是近幾年，隨著太空探測技術和超導材料研究的進步，X射線能量探測器技術取得了顯著的進展。目前除了正比計數(shù)器、閃爍計數(shù)器及Si（Li）探測器等廣泛應用于各種商用儀器外，各種基于半導體原理及超導性等制成的能量探測器也取得了顯著進步。
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X射線熒光光譜校正曲線法要求標準樣和樣品的物理化學形態(tài)、分析元素的濃度范圍盡可能一致。在許多情況下，分折線強度并不隨著其濃度的增加而增加，需對基體進行校正后，方能繪制工作曲線。早期X射線熒光光譜定量分析主要使用校正曲線方法獲得定量分析結果，以作圖法制定校正曲線。通常以濃度C,為橫坐標，I為縱坐標?，F(xiàn)在則通過計算機用二乘法進行計算，X射線熒光光譜曲線上各數(shù)據(jù)點與曲線上相對應的數(shù)據(jù)偏差的平方和。
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X射線衍射儀技術，通過對材料進行X射線衍射，分析其衍射圖譜，獲得材料的成分、材料內(nèi)部原子或分子的結構或形態(tài)等信息的研究手段。X射線衍射分析法是研究物質(zhì)的物相和晶體結構的主要方法。當某物質(zhì)(晶體或非晶體)進行衍射分析時,該物質(zhì)被X射線照射產(chǎn)生不同程度的衍射現(xiàn)象,物質(zhì)組成、晶型、分子內(nèi)成鍵方式、分子的構型、構象等決定該物質(zhì)產(chǎn)生的衍射圖譜。X射線衍射方法具有不損傷樣品、快捷、測量精度高、能得到有關晶體完整性的大量信息等優(yōu)點。因此,X射線衍射分析法作為材料結構和成分分析的一種現(xiàn)代科學方法,已逐步在各學科研究和生產(chǎn)中廣泛應用。