蓬萊安檢X射線管哪個品牌好
發(fā)布時間：2024-11-20 02:06:28
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選擇二次靶和偏振光也是為了進行有選擇的激發(fā)，并降低背景。對于封閉式正比計數(shù)管為探測器的低分辨率光譜儀，管壓和管流選擇也是很重要的，如測定水泥原材料，用Cu靶，3盧um厚的Sn濾光片，測Si,A1,S時也用4kv,0.6mA,而測Ca和Fe時則用10kv,0.06mA.
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熒光分析曲線斜率的大小與基體的質(zhì)量吸收系數(shù)有關(guān)，也就是說，質(zhì)量吸收系數(shù)越大，斜率越小。同時斜率與特征譜線的波長有關(guān)。小于10nm的短波范圍內(nèi)，斜率居中大于30nm的長波范圍內(nèi)，斜率低在上述兩者之間時斜率低，背景也低，因此分析方法靈敏。若校正曲線通過零點，原則上只要一個標準樣便可確定校正曲線。對于濃度范圍很大的試樣，則至少需要三個以上的標準樣品。
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物質(zhì)結(jié)構(gòu)的分析盡管可以采用中子衍射、電子衍射、紅外光譜、穆斯堡爾譜等方法，但是XRD（X射線衍射）是目前研究晶體結(jié)構(gòu)(如原子或離子及其基團的種類和位置分布，晶胞形狀和大小等)有力的方法，而且X射線衍射是人類用來研究物質(zhì)微觀結(jié)構(gòu)的一種方法。X射線衍射的應用范圍非常廣泛，現(xiàn)已滲透到物理、化學、地球科學、材料科學以及各種工程技術(shù)科學中，成為一種重要的實驗方法和結(jié)構(gòu)分析手段，具有無損試樣的優(yōu)點。
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在波長色散X射線光譜儀中，由于使用分光晶體，是的待測元素的分析譜線可以較好分離，故通過使用分辨率較低的流氣式正比計數(shù)器和NaI閃爍技術(shù)器作為X射線探測器。分光晶體與低分辨率探測器的結(jié)合應用，使得波長色散X射線光譜儀的整體分辨率要優(yōu)于使用常規(guī)半導體Si探測器的能量色散X射線光譜儀。
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X射線管組件是將X射線管與一些外圍的零件組合而成的一個部件，外圍零件通常會有屏蔽射線的鉛筒、如果是旋轉(zhuǎn)陽極的，還會有旋轉(zhuǎn)陽極的靜子、高壓電纜接口、絕緣油、防止因為溫度變化，油的體積變化產(chǎn)生過大壓力的膨脹器、密封的金屬外殼等。X射線管組件的外殼是零電位的。
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X射線在物質(zhì)中的穿透能力較大,故能測量較厚樣品中的元素平均含量。熒光分析X射線管當使用放射性同位素作激發(fā)源時能夠制成便攜式的儀器，不僅可用于實驗室，還可以用于工廠、野外地質(zhì)和礦山。當使用電子同步加速器或電子儲存環(huán)發(fā)出的高強度偏振輻射作激發(fā)源時，探測極限比PIXE好幾個數(shù)量級。若再使用晶體單色器，還可以制成同步輻射X射線微探針，進行微區(qū)分析。