盤錦熒光分析X射線管產(chǎn)地貨源公司
發(fā)布時(shí)間：2024-11-24 02:06:05
盤錦熒光分析X射線管產(chǎn)地貨源公司
熒光分析X射線管管壓和管電流的選擇原則與在波長(zhǎng)色散光譜儀中的不同，所用管壓通常比待測(cè)元素的激發(fā)電位高3～5kev,而在波長(zhǎng)色散光譜儀中要比激發(fā)電位大4～10倍，同時(shí)管電流一般均較小，它受能量色散光譜儀所允許的大計(jì)數(shù)率(5～30kcps)的限制。基于此，視待分析元素對(duì)象不僅要設(shè)置不同的管壓和管電流，還要與濾光片結(jié)合起來考慮，其原則是保證所測(cè)元素獲得大強(qiáng)度。
盤錦熒光分析X射線管產(chǎn)地貨源公司
熒光分析X射線管在X射線熒光光譜測(cè)定痕量元素時(shí)，若背景能準(zhǔn)確扣除，也可強(qiáng)制通過零點(diǎn)，以便獲得更準(zhǔn)確的結(jié)果。其數(shù)學(xué)表達(dá)式表示為Ci=EiLi+Di式中E和D分別代表曲線的斜率和截距，D的單位是濃度，E的倒數(shù)是方法的靈敏度C,是待測(cè)元素i的濃度i,是待測(cè)元素的強(qiáng)度，校正曲線以直線表示為好，也可用二次曲線，只是用二次曲線需要較多的標(biāo)樣，且可能存在危險(xiǎn)，故建議盡可能少用。使用X射線熒光光譜時(shí)，我們通常希望曲線的斜率陡一些，這樣在濃度變化很小時(shí)，分析線強(qiáng)度變化很大。
盤錦熒光分析X射線管產(chǎn)地貨源公司
X射線熒光光譜法是一個(gè)相對(duì)分析方法，任何制樣過程和步驟須有非常好的重復(fù)操作可能性；用于制作校準(zhǔn)曲線的標(biāo)準(zhǔn)樣品和分析樣品須經(jīng)過同樣的制樣處理過程。X射線熒光分析儀從根本上來說是一種相對(duì)測(cè)量?jī)x器，因此在使用過程中，需要定期對(duì)儀器進(jìn)行標(biāo)定和校準(zhǔn)。
盤錦熒光分析X射線管產(chǎn)地貨源公司
X射線不存在殘留問題，只要撤去就立即消失，不會(huì)繼續(xù)給人體造成影響。這與“核泄漏”“核事故”有本質(zhì)區(qū)別，核泄漏是指放射性物質(zhì)泄漏，即使泄漏停止，殘留的放射性物質(zhì)還會(huì)繼續(xù)放出射線，造成破壞，而且半衰期很長(zhǎng)，破壞持久。比如切爾諾貝利核電站事故，直到現(xiàn)在事故現(xiàn)場(chǎng)的核輻射仍然繼續(xù)著，而且還要持續(xù)千年。醫(yī)院所用的放射性物質(zhì)與核電站不同，不會(huì)存在高劑量半衰期長(zhǎng)的放射性物質(zhì)，較常用的有鈷60，半衰期是5.27年，而且大多用于放射性治療，不會(huì)用在X光與CT檢查上。