營口熒光分析X射線管制造商哪家好
發(fā)布時(shí)間：2024-11-25 02:04:33
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當(dāng)材料由多種結(jié)晶成分組成，需區(qū)分各成分所占比例，可使用XRD物相鑒定功能，分析各結(jié)晶相的比例。很多材料的性能由結(jié)晶程度決定，可使用結(jié)構(gòu)分析X射線管XRD結(jié)晶度分析，確定材料的結(jié)晶程度。新材料開發(fā)需要充分了解材料的晶格參數(shù)，使用XRD可快捷測試出點(diǎn)陣參數(shù)，為新材料開發(fā)應(yīng)用提供性能驗(yàn)證指標(biāo)。產(chǎn)品在使用過程中出現(xiàn)斷裂、變形等失效現(xiàn)象，可能涉及微觀應(yīng)力方面影響，使用XRD可以快捷測定微觀應(yīng)力。納米材料由于顆粒細(xì)小,極易形成團(tuán)粒,采用通常的粒度分析儀往往會給出錯(cuò)誤的數(shù)據(jù)。采用X射線衍射線線寬法(謝樂法)可以測定納米粒子的平均粒徑。
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水平度測量儀：在射線管窗口上成90度粘貼2個(gè)小水平儀，當(dāng)空腔位于水平儀中間位置時(shí)證明射線管水平度良好。射線管旋轉(zhuǎn)角度測量尺：射線管的旋轉(zhuǎn)角度不易用傳統(tǒng)方法測量，旋轉(zhuǎn)后角度常?？咳搜勰恳暪烙?jì)，準(zhǔn)確度低，且重復(fù)性差，難以保證底片質(zhì)量的一致性，甚至因透照位置不合適造成返片，浪費(fèi)了人力、物力，增大了檢測工作量。為解決這一問題，以垂直地面為0度，根據(jù)射線管結(jié)構(gòu)和尺寸繪制了半圓形角度尺，制作了射線管的旋轉(zhuǎn)角度測量尺，將該角度測量尺粘貼于射線管上，使用起來非常方便。
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在波長色散X射線光譜儀中，由于使用分光晶體，是的待測元素的分析譜線可以較好分離，故通過使用分辨率較低的流氣式正比計(jì)數(shù)器和NaI閃爍技術(shù)器作為X射線探測器。分光晶體與低分辨率探測器的結(jié)合應(yīng)用，使得波長色散X射線光譜儀的整體分辨率要優(yōu)于使用常規(guī)半導(dǎo)體Si探測器的能量色散X射線光譜儀。
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熒光分析X射線管在X射線熒光光譜測定痕量元素時(shí)，若背景能準(zhǔn)確扣除，也可強(qiáng)制通過零點(diǎn)，以便獲得更準(zhǔn)確的結(jié)果。其數(shù)學(xué)表達(dá)式表示為Ci=EiLi+Di式中E和D分別代表曲線的斜率和截距，D的單位是濃度，E的倒數(shù)是方法的靈敏度C,是待測元素i的濃度i,是待測元素的強(qiáng)度，校正曲線以直線表示為好，也可用二次曲線，只是用二次曲線需要較多的標(biāo)樣，且可能存在危險(xiǎn)，故建議盡可能少用。使用X射線熒光光譜時(shí)，我們通常希望曲線的斜率陡一些，這樣在濃度變化很小時(shí)，分析線強(qiáng)度變化很大。