萊陽(yáng)結(jié)構(gòu)分析X射線管市場(chǎng)報(bào)價(jià)
發(fā)布時(shí)間:2024-11-30 02:04:52萊陽(yáng)結(jié)構(gòu)分析X射線管市場(chǎng)報(bào)價(jià)
結(jié)構(gòu)分析X射線管高穩(wěn)定度X射線源提供測(cè)量所需的X射線,改變X射線管陽(yáng)極靶材質(zhì)可改變X射線的波長(zhǎng),調(diào)節(jié)陽(yáng)極電壓可控制X射線源的強(qiáng)度。樣品及樣品位置取向的調(diào)整機(jī)構(gòu)系統(tǒng)樣品須是單晶、粉末、多晶或微晶的固體塊。射線檢測(cè)器檢測(cè)衍射強(qiáng)度或同時(shí)檢測(cè)衍射方向,通過(guò)儀器測(cè)量記錄系統(tǒng)或計(jì)算機(jī)處理系統(tǒng)可以得到多晶衍射圖譜數(shù)據(jù)。
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物質(zhì)結(jié)構(gòu)的分析盡管可以采用中子衍射、電子衍射、紅外光譜、穆斯堡爾譜等方法,但是XRD(X射線衍射)是目前研究晶體結(jié)構(gòu)(如原子或離子及其基團(tuán)的種類(lèi)和位置分布,晶胞形狀和大小等)有力的方法,而且X射線衍射是人類(lèi)用來(lái)研究物質(zhì)微觀結(jié)構(gòu)的一種方法。X射線衍射的應(yīng)用范圍非常廣泛,現(xiàn)已滲透到物理、化學(xué)、地球科學(xué)、材料科學(xué)以及各種工程技術(shù)科學(xué)中,成為一種重要的實(shí)驗(yàn)方法和結(jié)構(gòu)分析手段,具有無(wú)損試樣的優(yōu)點(diǎn)。
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當(dāng)材料由多種結(jié)晶成分組成,需區(qū)分各成分所占比例,可使用XRD物相鑒定功能,分析各結(jié)晶相的比例。很多材料的性能由結(jié)晶程度決定,可使用結(jié)構(gòu)分析X射線管XRD結(jié)晶度分析,確定材料的結(jié)晶程度。新材料開(kāi)發(fā)需要充分了解材料的晶格參數(shù),使用XRD可快捷測(cè)試出點(diǎn)陣參數(shù),為新材料開(kāi)發(fā)應(yīng)用提供性能驗(yàn)證指標(biāo)。產(chǎn)品在使用過(guò)程中出現(xiàn)斷裂、變形等失效現(xiàn)象,可能涉及微觀應(yīng)力方面影響,使用XRD可以快捷測(cè)定微觀應(yīng)力。納米材料由于顆粒細(xì)小,極易形成團(tuán)粒,采用通常的粒度分析儀往往會(huì)給出錯(cuò)誤的數(shù)據(jù)。采用X射線衍射線線寬法(謝樂(lè)法)可以測(cè)定納米粒子的平均粒徑。
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由于同步輻射具有強(qiáng)度高、準(zhǔn)直好、偏振性、波長(zhǎng)連續(xù)可調(diào)等優(yōu)點(diǎn),使得同步輻射X射線熒光分析比常規(guī)X射線熒光分析,具有更高的靈敏度和更小的微區(qū)分析能力,可以解決一些常規(guī)X光源不能解決的科研和實(shí)際應(yīng)用問(wèn)題??梢赃M(jìn)行各種材料的微區(qū)、微量元素的無(wú)損成分分析,譜的信噪比與改造前的白光譜相比提高了近兩個(gè)數(shù)量級(jí)。
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X射線熒光光譜法是一個(gè)相對(duì)分析方法,任何制樣過(guò)程和步驟須有非常好的重復(fù)操作可能性;用于制作校準(zhǔn)曲線的標(biāo)準(zhǔn)樣品和分析樣品須經(jīng)過(guò)同樣的制樣處理過(guò)程。X射線熒光分析儀從根本上來(lái)說(shuō)是一種相對(duì)測(cè)量?jī)x器,因此在使用過(guò)程中,需要定期對(duì)儀器進(jìn)行標(biāo)定和校準(zhǔn)。