朝陽(yáng)X射線管產(chǎn)地貨源公司
發(fā)布時(shí)間：2024-12-12 02:02:05
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由于來(lái)自X光管的X射線不僅照射到分析樣品上，也會(huì)照射到樣品盒及樣品罩上。而產(chǎn)生來(lái)自樣品盒或罩上的不需要的熒光射線，從而影響分析精度，因此使用了光闌系統(tǒng)來(lái)保證只允許來(lái)自分析樣品的熒光X射線進(jìn)入計(jì)數(shù)器。來(lái)自樣品的熒光X射線和散射線都不是單一方向的，入射狹縫裝在樣品和分光晶體之間，它只允許指向分光晶體方向的熒光X射線通過(guò)，而吸收其它方向的射線，從而提高了光譜分辨率。
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光電倍增管的靈敏度有兩種，一種是陰極靈敏度，另一種是陽(yáng)極靈敏度。陰極靈敏度是指單位光輻射在光陰極上產(chǎn)生光電流的大小，它是由所用光陰極材料決定的。陽(yáng)極靈敏度是指光電倍增管在一定外加電壓作用下單位光輻射產(chǎn)生的陽(yáng)極輸出電流。陽(yáng)極靈敏度是隨著外加電壓大小而改變的。這兩種靈敏度是選用PMT的重要參數(shù)。
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X射線衍射儀技術(shù)，通過(guò)對(duì)材料進(jìn)行X射線衍射，分析其衍射圖譜，獲得材料的成分、材料內(nèi)部原子或分子的結(jié)構(gòu)或形態(tài)等信息的研究手段。X射線衍射分析法是研究物質(zhì)的物相和晶體結(jié)構(gòu)的主要方法。當(dāng)某物質(zhì)(晶體或非晶體)進(jìn)行衍射分析時(shí),該物質(zhì)被X射線照射產(chǎn)生不同程度的衍射現(xiàn)象,物質(zhì)組成、晶型、分子內(nèi)成鍵方式、分子的構(gòu)型、構(gòu)象等決定該物質(zhì)產(chǎn)生的衍射圖譜。X射線衍射方法具有不損傷樣品、快捷、測(cè)量精度高、能得到有關(guān)晶體完整性的大量信息等優(yōu)點(diǎn)。因此,X射線衍射分析法作為材料結(jié)構(gòu)和成分分析的一種現(xiàn)代科學(xué)方法,已逐步在各學(xué)科研究和生產(chǎn)中廣泛應(yīng)用。
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質(zhì)子X(jué)射線熒光分析技術(shù)由于能夠在非真空條件下分析含量少、濃度低的元素，并且一次可同時(shí)分析多種元素，靈敏度高，隨原子序數(shù)增大不會(huì)發(fā)生突變，屬于可以定量和定標(biāo)的非破壞性快速分析技術(shù)，在環(huán)境污染的監(jiān)測(cè)、生物和醫(yī)學(xué)樣品的分析、考古研究及超重元素探測(cè)等方面都發(fā)揮了重要的作用。
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暗電流是指在有光射在光陽(yáng)極上時(shí)光電倍增管的輸出電流。暗電流的產(chǎn)生是由光陰極表面的熱電子發(fā)射及電極之間的所加電壓而產(chǎn)生的漏電流。因此，降低溫度及降壓都能降低暗電流。光電倍增管的暗電流越小，質(zhì)量越好。