濟(jì)南熒光分析X射線管生產(chǎn)廠家
發(fā)布時(shí)間：2024-12-13 01:56:45
濟(jì)南熒光分析X射線管生產(chǎn)廠家
X射線在物質(zhì)中的穿透能力較大,故能測(cè)量較厚樣品中的元素平均含量。熒光分析X射線管當(dāng)使用放射性同位素作激發(fā)源時(shí)能夠制成便攜式的儀器，不僅可用于實(shí)驗(yàn)室，還可以用于工廠、野外地質(zhì)和礦山。當(dāng)使用電子同步加速器或電子儲(chǔ)存環(huán)發(fā)出的高強(qiáng)度偏振輻射作激發(fā)源時(shí)，探測(cè)極限比PIXE好幾個(gè)數(shù)量級(jí)。若再使用晶體單色器，還可以制成同步輻射X射線微探針，進(jìn)行微區(qū)分析。
濟(jì)南熒光分析X射線管生產(chǎn)廠家
在微束熒光分析方面，已可以達(dá)到空間分辨10~50mm，可以開展例如單個(gè)流體地質(zhì)包裹體的無(wú)損成分分析，單個(gè)生物細(xì)胞的無(wú)損成分分析，以及其它領(lǐng)域各種細(xì)微材料的無(wú)損成分分析。利用雙晶單色器和超環(huán)面鏡組合系統(tǒng)的單色光掠入射到樣品的全反射方法。此外，近期擬對(duì)用戶開放過(guò)渡金屬的共振非彈性X射線散射實(shí)驗(yàn)。
濟(jì)南熒光分析X射線管生產(chǎn)廠家
熒光分析曲線斜率的大小與基體的質(zhì)量吸收系數(shù)有關(guān)，也就是說(shuō)，質(zhì)量吸收系數(shù)越大，斜率越小。同時(shí)斜率與特征譜線的波長(zhǎng)有關(guān)。小于10nm的短波范圍內(nèi)，斜率居中大于30nm的長(zhǎng)波范圍內(nèi)，斜率低在上述兩者之間時(shí)斜率低，背景也低，因此分析方法靈敏。若校正曲線通過(guò)零點(diǎn)，原則上只要一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)樣便可確定校正曲線。對(duì)于濃度范圍很大的試樣，則至少需要三個(gè)以上的標(biāo)準(zhǔn)樣品。
濟(jì)南熒光分析X射線管生產(chǎn)廠家
為保證有害元素含量的控制效果，X射線熒光分析儀的測(cè)量數(shù)據(jù)應(yīng)與其他的測(cè)量手段結(jié)合起來(lái)使用；X射線熒光分析儀更適合生產(chǎn)過(guò)程的監(jiān)控，甚至可以說(shuō)：在生產(chǎn)過(guò)程中對(duì)有害元素含量的監(jiān)控，X射線熒光分析方法是目前可行的分析手段；而有害元素含量的最終裁定，則不應(yīng)該僅僅依靠單一的測(cè)量手段。
濟(jì)南熒光分析X射線管生產(chǎn)廠家
譜線有Ka、Kb、Lb、La和Ma.可供選擇，通常原子序數(shù)小于42的元素用K系線，大于42的元素用L系線，有時(shí)亦可選M系線。為了便于獲取待測(cè)元素的凈強(qiáng)度，對(duì)使用Si-PIN和Si(Li)探測(cè)器的譜儀，在解譜時(shí)不僅考慮待測(cè)元素，還應(yīng)考慮與待測(cè)元素譜相近的基體中其他元素，特別是重元素L和M系線的干擾。對(duì)于低分辨率譜儀如使用封閉式正比計(jì)數(shù)管的譜儀，通常測(cè)定純?cè)刈V，并以譜的半高寬左右兩側(cè)的能量作為感興趣區(qū)的起點(diǎn)和終點(diǎn)。