潮州安檢X射線管商品批發(fā)價(jià)格
發(fā)布時(shí)間：2024-12-16 01:55:51
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當(dāng)材料由多種結(jié)晶成分組成，需區(qū)分各成分所占比例，可使用XRD物相鑒定功能，分析各結(jié)晶相的比例。很多材料的性能由結(jié)晶程度決定，可使用結(jié)構(gòu)分析X射線管XRD結(jié)晶度分析，確定材料的結(jié)晶程度。新材料開(kāi)發(fā)需要充分了解材料的晶格參數(shù)，使用XRD可快捷測(cè)試出點(diǎn)陣參數(shù)，為新材料開(kāi)發(fā)應(yīng)用提供性能驗(yàn)證指標(biāo)。產(chǎn)品在使用過(guò)程中出現(xiàn)斷裂、變形等失效現(xiàn)象，可能涉及微觀應(yīng)力方面影響，使用XRD可以快捷測(cè)定微觀應(yīng)力。納米材料由于顆粒細(xì)小,極易形成團(tuán)粒,采用通常的粒度分析儀往往會(huì)給出錯(cuò)誤的數(shù)據(jù)。采用X射線衍射線線寬法(謝樂(lè)法)可以測(cè)定納米粒子的平均粒徑。
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電磁輻射激發(fā)X熒光分析，簡(jiǎn)稱EDXRF。電磁輻射激發(fā)一般用X射線管或X射線熒光分析Fe、238Pu、X射線熒光分析Cd、241、X射線熒光分析Co等放射性同位素作激發(fā)源。這時(shí)它的探測(cè)極限雖不及PIXE，但制樣簡(jiǎn)便，常?？梢灾苯臃治鲈紭悠?，而且既能分析低含量樣品，又能分析高含量樣品，因此應(yīng)用更為廣泛。
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質(zhì)子X(jué)射線熒光分析技術(shù)由于能夠在非真空條件下分析含量少、濃度低的元素，并且一次可同時(shí)分析多種元素，靈敏度高，隨原子序數(shù)增大不會(huì)發(fā)生突變，屬于可以定量和定標(biāo)的非破壞性快速分析技術(shù)，在環(huán)境污染的監(jiān)測(cè)、生物和醫(yī)學(xué)樣品的分析、考古研究及超重元素探測(cè)等方面都發(fā)揮了重要的作用。
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初期的X射線探測(cè)器是無(wú)能量分辨能力的蓋革計(jì)數(shù)器，現(xiàn)在已發(fā)展處了多種類(lèi)型、不同用途，并具有幾號(hào)分辨率的各種X射線探測(cè)器。特別是近幾年，隨著太空探測(cè)技術(shù)和超導(dǎo)材料研究的進(jìn)步，X射線能量探測(cè)器技術(shù)取得了顯著的進(jìn)展。目前除了正比計(jì)數(shù)器、閃爍計(jì)數(shù)器及Si（Li）探測(cè)器等廣泛應(yīng)用于各種商用儀器外，各種基于半導(dǎo)體原理及超導(dǎo)性等制成的能量探測(cè)器也取得了顯著進(jìn)步。
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熒光分析X射線管在X射線熒光光譜測(cè)定痕量元素時(shí)，若背景能準(zhǔn)確扣除，也可強(qiáng)制通過(guò)零點(diǎn)，以便獲得更準(zhǔn)確的結(jié)果。其數(shù)學(xué)表達(dá)式表示為Ci=EiLi+Di式中E和D分別代表曲線的斜率和截距，D的單位是濃度，E的倒數(shù)是方法的靈敏度C,是待測(cè)元素i的濃度i,是待測(cè)元素的強(qiáng)度，校正曲線以直線表示為好，也可用二次曲線，只是用二次曲線需要較多的標(biāo)樣，且可能存在危險(xiǎn)，故建議盡可能少用。使用X射線熒光光譜時(shí)，我們通常希望曲線的斜率陡一些，這樣在濃度變化很小時(shí)，分析線強(qiáng)度變化很大。