山東結(jié)構(gòu)分析X射線管聯(lián)系電話地址
發(fā)布時間:2024-12-19 01:55:38山東結(jié)構(gòu)分析X射線管聯(lián)系電話地址
熒光分析X射線是確定物質(zhì)中微量元素的種類和含量的一種方法。它用熒光分析X射線管輻射激發(fā)待分析樣品中的原子,使原子發(fā)出標識X射線(熒光),通過測量這些標識X射線的能量和強度來確定物質(zhì)中微量元素的種類和含量。根據(jù)激發(fā)源的不同,可分成帶電粒子激發(fā)X熒光分析,電磁輻射激發(fā)X熒光分析和電子激發(fā)X熒光分析。
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在測量不規(guī)則的樣品時,雖然從X射線熒光分析方法上可以對測量進行技術(shù)上的校正,從而滿足實際測量的需要;但這樣做所付出的代價是犧牲測量精度和測量數(shù)據(jù)的可靠性。X射線熒光實際上又是一個表面分析方法,激發(fā)只發(fā)生在試樣的淺表面,須注意分析面相對于整個樣品是否有代表性。此外,樣品的平均粒度和粒度分布是否有變化,樣品中是否存在不均勻的多孔狀態(tài)等。樣品制備過程由于經(jīng)過多步驟操作,還須防止樣品的損失和沾污。
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X射線安檢儀是通過安檢X射線管發(fā)射X射線掃描物品,利用X射線能穿透的特點,對乘客的物品掃描,檢查是否有違禁物品。我們常說的醫(yī)用X光與CT,就是利用電離輻射中的電磁波X射線能穿透人體的特點,可以讓影像科醫(yī)生通過X射線穿透人體后形成的圖像,間接地觀察人體內(nèi)部結(jié)構(gòu)。
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X射線檢測可以顯示缺陷的形狀、平面位置、性質(zhì)和大小,底片可以長期保留。對于如氣孔、夾渣、縮孔等體積性缺陷,在X射線透照方向有較明顯的厚度差,即使很小的缺陷也較容易檢查出來。而對于如裂紋那樣的面狀缺陷,只有與裂紋方向平行的X射線照射時,才能夠檢查出來,而同裂紋面幾乎垂直的射線照射時,就很難查出。這是因為在照射方向幾乎沒有厚度差的緣故。
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X射線在物質(zhì)中的穿透能力較大,故能測量較厚樣品中的元素平均含量。熒光分析X射線管當使用放射性同位素作激發(fā)源時能夠制成便攜式的儀器,不僅可用于實驗室,還可以用于工廠、野外地質(zhì)和礦山。當使用電子同步加速器或電子儲存環(huán)發(fā)出的高強度偏振輻射作激發(fā)源時,探測極限比PIXE好幾個數(shù)量級。若再使用晶體單色器,還可以制成同步輻射X射線微探針,進行微區(qū)分析。
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X射線熒光光譜校正曲線法要求標準樣和樣品的物理化學形態(tài)、分析元素的濃度范圍盡可能一致。在許多情況下,分折線強度并不隨著其濃度的增加而增加,需對基體進行校正后,方能繪制工作曲線。早期X射線熒光光譜定量分析主要使用校正曲線方法獲得定量分析結(jié)果,以作圖法制定校正曲線。通常以濃度C,為橫坐標,I為縱坐標?,F(xiàn)在則通過計算機用二乘法進行計算,X射線熒光光譜曲線上各數(shù)據(jù)點與曲線上相對應的數(shù)據(jù)偏差的平方和。