東營熒光分析X射線管批發(fā)多少錢
發(fā)布時間：2024-12-22 01:55:34
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衍射儀是進(jìn)行X射線分析的重要設(shè)備，主要由X射線發(fā)生器、測角儀、記錄儀和水冷卻系統(tǒng)組成。新型的衍射儀還帶有條件輸入和數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)。X射線發(fā)生器由高壓變壓器及管流管壓控制單元、結(jié)構(gòu)分析X射線管、熱交換器。產(chǎn)生高穩(wěn)定的高壓加到X射線管上用以產(chǎn)生X射線。這里利用高電壓加速的高速電子轟擊X射線管金屬靶面產(chǎn)生X射線的原理。
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為了滿足現(xiàn)代企業(yè)管理和生產(chǎn)要求，須對生產(chǎn)過程中的原材料的化學(xué)成分進(jìn)行及時、準(zhǔn)確的分析和控制，傳統(tǒng)的化學(xué)分析方法已經(jīng)完全不能滿足生產(chǎn)過程的需要。目前眾多新型冶煉企業(yè)為了達(dá)到良好的質(zhì)量控制指標(biāo)，大都配備了相應(yīng)的分析儀。由于化學(xué)分析方法分析速度的限制，實際上，采用化學(xué)分析方法對于生產(chǎn)過程來說只有事后監(jiān)測的意義，而沒有控制意義，往往是當(dāng)我們發(fā)現(xiàn)某個控制環(huán)節(jié)有問題時，已經(jīng)造成了嚴(yán)重的后果，給工廠帶來了很大的損失。
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在波長色散X射線光譜儀中，由于使用分光晶體，是的待測元素的分析譜線可以較好分離，故通過使用分辨率較低的流氣式正比計數(shù)器和NaI閃爍技術(shù)器作為X射線探測器。分光晶體與低分辨率探測器的結(jié)合應(yīng)用，使得波長色散X射線光譜儀的整體分辨率要優(yōu)于使用常規(guī)半導(dǎo)體Si探測器的能量色散X射線光譜儀。
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如用Si-PIN探測器的譜儀，以Rh靶作為激發(fā)光源，分析水泥中鎂、鋁、硅、硫和鉀時，選擇4kv,0.6mA,其目的是使高含量鈣不被激發(fā)，而測鈣、鈦和鐵時，選擇13kv,0.lmA，并選用200pm鋁作濾光片，除去X射線管發(fā)射的RHL_線，以便降低鋁、硅等元素的X射線熒光強度，從而提高鈣和鐵等元素的X射線熒光強度。
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當(dāng)材料由多種結(jié)晶成分組成，需區(qū)分各成分所占比例，可使用XRD物相鑒定功能，分析各結(jié)晶相的比例。很多材料的性能由結(jié)晶程度決定，可使用結(jié)構(gòu)分析X射線管XRD結(jié)晶度分析，確定材料的結(jié)晶程度。新材料開發(fā)需要充分了解材料的晶格參數(shù)，使用XRD可快捷測試出點陣參數(shù)，為新材料開發(fā)應(yīng)用提供性能驗證指標(biāo)。產(chǎn)品在使用過程中出現(xiàn)斷裂、變形等失效現(xiàn)象，可能涉及微觀應(yīng)力方面影響，使用XRD可以快捷測定微觀應(yīng)力。納米材料由于顆粒細(xì)小,極易形成團(tuán)粒,采用通常的粒度分析儀往往會給出錯誤的數(shù)據(jù)。采用X射線衍射線線寬法(謝樂法)可以測定納米粒子的平均粒徑。