高州結(jié)構(gòu)分析X射線管批發(fā)多少錢
發(fā)布時(shí)間：2024-12-23 01:56:00
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如用Si-PIN探測器的譜儀，以Rh靶作為激發(fā)光源，分析水泥中鎂、鋁、硅、硫和鉀時(shí)，選擇4kv,0.6mA,其目的是使高含量鈣不被激發(fā)，而測鈣、鈦和鐵時(shí)，選擇13kv,0.lmA，并選用200pm鋁作濾光片，除去X射線管發(fā)射的RHL_線，以便降低鋁、硅等元素的X射線熒光強(qiáng)度，從而提高鈣和鐵等元素的X射線熒光強(qiáng)度。
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在微束熒光分析方面，已可以達(dá)到空間分辨10~50mm，可以開展例如單個(gè)流體地質(zhì)包裹體的無損成分分析，單個(gè)生物細(xì)胞的無損成分分析，以及其它領(lǐng)域各種細(xì)微材料的無損成分分析。利用雙晶單色器和超環(huán)面鏡組合系統(tǒng)的單色光掠入射到樣品的全反射方法。此外，近期擬對用戶開放過渡金屬的共振非彈性X射線散射實(shí)驗(yàn)。
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不同元素發(fā)出的特征X射線能量和波長各不相同，因此通過對熒光分析X射線管發(fā)出射線的能量或者波長的測量即可知道它是何種元素發(fā)出的，進(jìn)行元素的定性分析。同時(shí)樣品受激發(fā)后發(fā)射某一元素的特征X射線強(qiáng)度跟這元素在樣品中的含量有關(guān)，因此測出它的強(qiáng)度就能進(jìn)行元素的定量分析。因此，X射線熒光光譜儀有兩種基本類型：波長色散型（WDEXRF）和能量色散型（EDXRF）。
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熒光分析X射線管在X射線熒光光譜測定痕量元素時(shí)，若背景能準(zhǔn)確扣除，也可強(qiáng)制通過零點(diǎn)，以便獲得更準(zhǔn)確的結(jié)果。其數(shù)學(xué)表達(dá)式表示為Ci=EiLi+Di式中E和D分別代表曲線的斜率和截距，D的單位是濃度，E的倒數(shù)是方法的靈敏度C,是待測元素i的濃度i,是待測元素的強(qiáng)度，校正曲線以直線表示為好，也可用二次曲線，只是用二次曲線需要較多的標(biāo)樣，且可能存在危險(xiǎn)，故建議盡可能少用。使用X射線熒光光譜時(shí)，我們通常希望曲線的斜率陡一些，這樣在濃度變化很小時(shí)，分析線強(qiáng)度變化很大。