沈陽熒光分析X射線管產(chǎn)地貨源公司
發(fā)布時(shí)間：2024-12-25 01:55:33
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X射線熒光光譜法是一個(gè)相對分析方法，任何制樣過程和步驟須有非常好的重復(fù)操作可能性；用于制作校準(zhǔn)曲線的標(biāo)準(zhǔn)樣品和分析樣品須經(jīng)過同樣的制樣處理過程。X射線熒光分析儀從根本上來說是一種相對測量儀器，因此在使用過程中，需要定期對儀器進(jìn)行標(biāo)定和校準(zhǔn)。
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熒光分析X射線管在X射線熒光光譜測定痕量元素時(shí)，若背景能準(zhǔn)確扣除，也可強(qiáng)制通過零點(diǎn)，以便獲得更準(zhǔn)確的結(jié)果。其數(shù)學(xué)表達(dá)式表示為Ci=EiLi+Di式中E和D分別代表曲線的斜率和截距，D的單位是濃度，E的倒數(shù)是方法的靈敏度C,是待測元素i的濃度i,是待測元素的強(qiáng)度，校正曲線以直線表示為好，也可用二次曲線，只是用二次曲線需要較多的標(biāo)樣，且可能存在危險(xiǎn)，故建議盡可能少用。使用X射線熒光光譜時(shí)，我們通常希望曲線的斜率陡一些，這樣在濃度變化很小時(shí)，分析線強(qiáng)度變化很大。
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X射線探測器的作用是將X射線光子的能量轉(zhuǎn)換成易于測量的電信號(hào)。在入射X射線與探測器活性材料的相互作用下產(chǎn)生光電子，由這些光電子形成的電流經(jīng)電容和電阻產(chǎn)生脈沖典雅，脈沖典雅的大小與X射線光子的能量成正比，好的探測器經(jīng)常要求兩字計(jì)數(shù)效率和分辨率高，線性和正比性好。
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熒光分析X射線是確定物質(zhì)中微量元素的種類和含量的一種方法。它用熒光分析X射線管輻射激發(fā)待分析樣品中的原子，使原子發(fā)出標(biāo)識(shí)X射線（熒光），通過測量這些標(biāo)識(shí)X射線的能量和強(qiáng)度來確定物質(zhì)中微量元素的種類和含量。根據(jù)激發(fā)源的不同，可分成帶電粒子激發(fā)X熒光分析，電磁輻射激發(fā)X熒光分析和電子激發(fā)X熒光分析。
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在微束熒光分析方面，已可以達(dá)到空間分辨10~50mm，可以開展例如單個(gè)流體地質(zhì)包裹體的無損成分分析，單個(gè)生物細(xì)胞的無損成分分析，以及其它領(lǐng)域各種細(xì)微材料的無損成分分析。利用雙晶單色器和超環(huán)面鏡組合系統(tǒng)的單色光掠入射到樣品的全反射方法。此外，近期擬對用戶開放過渡金屬的共振非彈性X射線散射實(shí)驗(yàn)。