中山結(jié)構(gòu)分析X射線管生產(chǎn)廠家
發(fā)布時間：2024-08-29 02:16:45
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譜線有Ka、Kb、Lb、La和Ma.可供選擇，通常原子序數(shù)小于42的元素用K系線，大于42的元素用L系線，有時亦可選M系線。為了便于獲取待測元素的凈強度，對使用Si-PIN和Si(Li)探測器的譜儀，在解譜時不僅考慮待測元素，還應考慮與待測元素譜相近的基體中其他元素，特別是重元素L和M系線的干擾。對于低分辨率譜儀如使用封閉式正比計數(shù)管的譜儀，通常測定純元素譜，并以譜的半高寬左右兩側(cè)的能量作為感興趣區(qū)的起點和終點。
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X射線探測器的作用是將X射線光子的能量轉(zhuǎn)換成易于測量的電信號。在入射X射線與探測器活性材料的相互作用下產(chǎn)生光電子，由這些光電子形成的電流經(jīng)電容和電阻產(chǎn)生脈沖典雅，脈沖典雅的大小與X射線光子的能量成正比，好的探測器經(jīng)常要求兩字計數(shù)效率和分辨率高，線性和正比性好。
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不同元素發(fā)出的特征X射線能量和波長各不相同，因此通過對熒光分析X射線管發(fā)出射線的能量或者波長的測量即可知道它是何種元素發(fā)出的，進行元素的定性分析。同時樣品受激發(fā)后發(fā)射某一元素的特征X射線強度跟這元素在樣品中的含量有關，因此測出它的強度就能進行元素的定量分析。因此，X射線熒光光譜儀有兩種基本類型：波長色散型（WDEXRF）和能量色散型（EDXRF）。
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對城市空氣質(zhì)量的監(jiān)測是環(huán)境保護的一項重要工作。質(zhì)子X射線熒光分析技術(shù)在這方面同樣可以發(fā)揮它的作用。在對大氣污染的分析過程中，由于該分析技術(shù)可直接對采集在濾膜上的大氣顆粒物樣品進行測量，不需要進行化學處理，避免了化學處理過程中可能引起的元素污染或丟失，能很好地保持樣品中元素濃度固有的相關性。
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在微束熒光分析方面，已可以達到空間分辨10~50mm，可以開展例如單個流體地質(zhì)包裹體的無損成分分析，單個生物細胞的無損成分分析，以及其它領域各種細微材料的無損成分分析。利用雙晶單色器和超環(huán)面鏡組合系統(tǒng)的單色光掠入射到樣品的全反射方法。此外，近期擬對用戶開放過渡金屬的共振非彈性X射線散射實驗。
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熒光分析X射線管管壓和管電流的選擇原則與在波長色散光譜儀中的不同，所用管壓通常比待測元素的激發(fā)電位高3～5kev,而在波長色散光譜儀中要比激發(fā)電位大4～10倍，同時管電流一般均較小，它受能量色散光譜儀所允許的大計數(shù)率(5～30kcps)的限制?；诖耍暣治鲈貙ο蟛粌H要設置不同的管壓和管電流，還要與濾光片結(jié)合起來考慮，其原則是保證所測元素獲得大強度。