鐵嶺熒光分析X射線管聯(lián)系電話地址
發(fā)布時(shí)間：2024-08-30 02:16:26
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當(dāng)材料由多種結(jié)晶成分組成，需區(qū)分各成分所占比例，可使用XRD物相鑒定功能，分析各結(jié)晶相的比例。很多材料的性能由結(jié)晶程度決定，可使用結(jié)構(gòu)分析X射線管XRD結(jié)晶度分析，確定材料的結(jié)晶程度。新材料開(kāi)發(fā)需要充分了解材料的晶格參數(shù)，使用XRD可快捷測(cè)試出點(diǎn)陣參數(shù)，為新材料開(kāi)發(fā)應(yīng)用提供性能驗(yàn)證指標(biāo)。產(chǎn)品在使用過(guò)程中出現(xiàn)斷裂、變形等失效現(xiàn)象，可能涉及微觀應(yīng)力方面影響，使用XRD可以快捷測(cè)定微觀應(yīng)力。納米材料由于顆粒細(xì)小,極易形成團(tuán)粒,采用通常的粒度分析儀往往會(huì)給出錯(cuò)誤的數(shù)據(jù)。采用X射線衍射線線寬法(謝樂(lè)法)可以測(cè)定納米粒子的平均粒徑。
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X射線安檢儀是采用X射線掃描成像技術(shù)對(duì)行李進(jìn)行安全檢測(cè)的電子設(shè)備，由X射線發(fā)生器、X射線探測(cè)器、圖像處理系統(tǒng)等部分組成，根據(jù)掃描成像判斷物品的安全性。X射線安檢儀屬于低危險(xiǎn)射線裝置，輻射量遠(yuǎn)遠(yuǎn)小于醫(yī)學(xué)X光機(jī)。通過(guò)安檢X射線管發(fā)射出的射線，對(duì)過(guò)安檢的物品進(jìn)行掃描，排查有危險(xiǎn)的物品。
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X射線熒光光譜校正曲線法要求標(biāo)準(zhǔn)樣和樣品的物理化學(xué)形態(tài)、分析元素的濃度范圍盡可能一致。在許多情況下，分折線強(qiáng)度并不隨著其濃度的增加而增加，需對(duì)基體進(jìn)行校正后，方能繪制工作曲線。早期X射線熒光光譜定量分析主要使用校正曲線方法獲得定量分析結(jié)果，以作圖法制定校正曲線。通常以濃度C,為橫坐標(biāo)，I為縱坐標(biāo)?，F(xiàn)在則通過(guò)計(jì)算機(jī)用二乘法進(jìn)行計(jì)算，X射線熒光光譜曲線上各數(shù)據(jù)點(diǎn)與曲線上相對(duì)應(yīng)的數(shù)據(jù)偏差的平方和。
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定向X射線機(jī)其射線管窗口朝向地面，射線管是否位于水平位置不易測(cè)量，即使調(diào)整成水平狀態(tài)在射線管升降過(guò)程中，其是否保持水平位置也未知，直接影響到中心射線束位置，有效透照區(qū)位置，對(duì)于射線管需旋轉(zhuǎn)一定角度的透照，更是無(wú)法確認(rèn)旋轉(zhuǎn)后的準(zhǔn)確角度，不利于得到滿意的射線底片。針對(duì)這一情況，制作了控制射線管水平位置和旋轉(zhuǎn)角度的簡(jiǎn)易工具。