錦州結(jié)構(gòu)分析X射線管市場報(bào)價(jià)
發(fā)布時(shí)間：2024-09-02 02:15:26
錦州結(jié)構(gòu)分析X射線管市場報(bào)價(jià)
如用Si-PIN探測器的譜儀，以Rh靶作為激發(fā)光源，分析水泥中鎂、鋁、硅、硫和鉀時(shí)，選擇4kv,0.6mA,其目的是使高含量鈣不被激發(fā)，而測鈣、鈦和鐵時(shí)，選擇13kv,0.lmA，并選用200pm鋁作濾光片，除去X射線管發(fā)射的RHL_線，以便降低鋁、硅等元素的X射線熒光強(qiáng)度，從而提高鈣和鐵等元素的X射線熒光強(qiáng)度。
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在波長色散X射線光譜儀中，由于使用分光晶體，是的待測元素的分析譜線可以較好分離，故通過使用分辨率較低的流氣式正比計(jì)數(shù)器和NaI閃爍技術(shù)器作為X射線探測器。分光晶體與低分辨率探測器的結(jié)合應(yīng)用，使得波長色散X射線光譜儀的整體分辨率要優(yōu)于使用常規(guī)半導(dǎo)體Si探測器的能量色散X射線光譜儀。
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熒光分析X射線是確定物質(zhì)中微量元素的種類和含量的一種方法。它用熒光分析X射線管輻射激發(fā)待分析樣品中的原子，使原子發(fā)出標(biāo)識(shí)X射線（熒光），通過測量這些標(biāo)識(shí)X射線的能量和強(qiáng)度來確定物質(zhì)中微量元素的種類和含量。根據(jù)激發(fā)源的不同，可分成帶電粒子激發(fā)X熒光分析，電磁輻射激發(fā)X熒光分析和電子激發(fā)X熒光分析。
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X射線衍射儀技術(shù)，通過對(duì)材料進(jìn)行X射線衍射，分析其衍射圖譜，獲得材料的成分、材料內(nèi)部原子或分子的結(jié)構(gòu)或形態(tài)等信息的研究手段。X射線衍射分析法是研究物質(zhì)的物相和晶體結(jié)構(gòu)的主要方法。當(dāng)某物質(zhì)(晶體或非晶體)進(jìn)行衍射分析時(shí),該物質(zhì)被X射線照射產(chǎn)生不同程度的衍射現(xiàn)象,物質(zhì)組成、晶型、分子內(nèi)成鍵方式、分子的構(gòu)型、構(gòu)象等決定該物質(zhì)產(chǎn)生的衍射圖譜。X射線衍射方法具有不損傷樣品、快捷、測量精度高、能得到有關(guān)晶體完整性的大量信息等優(yōu)點(diǎn)。因此,X射線衍射分析法作為材料結(jié)構(gòu)和成分分析的一種現(xiàn)代科學(xué)方法,已逐步在各學(xué)科研究和生產(chǎn)中廣泛應(yīng)用。
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在測量不規(guī)則的樣品時(shí)，雖然從X射線熒光分析方法上可以對(duì)測量進(jìn)行技術(shù)上的校正，從而滿足實(shí)際測量的需要；但這樣做所付出的代價(jià)是犧牲測量精度和測量數(shù)據(jù)的可靠性。X射線熒光實(shí)際上又是一個(gè)表面分析方法，激發(fā)只發(fā)生在試樣的淺表面，須注意分析面相對(duì)于整個(gè)樣品是否有代表性。此外，樣品的平均粒度和粒度分布是否有變化，樣品中是否存在不均勻的多孔狀態(tài)等。樣品制備過程由于經(jīng)過多步驟操作，還須防止樣品的損失和沾污。