錦州X射線管聯(lián)系電話地址
發(fā)布時(shí)間：2024-09-03 02:15:40
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X射線熒光光譜校正曲線法要求標(biāo)準(zhǔn)樣和樣品的物理化學(xué)形態(tài)、分析元素的濃度范圍盡可能一致。在許多情況下，分折線強(qiáng)度并不隨著其濃度的增加而增加，需對(duì)基體進(jìn)行校正后，方能繪制工作曲線。早期X射線熒光光譜定量分析主要使用校正曲線方法獲得定量分析結(jié)果，以作圖法制定校正曲線。通常以濃度C,為橫坐標(biāo)，I為縱坐標(biāo)。現(xiàn)在則通過(guò)計(jì)算機(jī)用二乘法進(jìn)行計(jì)算，X射線熒光光譜曲線上各數(shù)據(jù)點(diǎn)與曲線上相對(duì)應(yīng)的數(shù)據(jù)偏差的平方和。
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當(dāng)材料由多種結(jié)晶成分組成，需區(qū)分各成分所占比例，可使用XRD物相鑒定功能，分析各結(jié)晶相的比例。很多材料的性能由結(jié)晶程度決定，可使用結(jié)構(gòu)分析X射線管XRD結(jié)晶度分析，確定材料的結(jié)晶程度。新材料開發(fā)需要充分了解材料的晶格參數(shù)，使用XRD可快捷測(cè)試出點(diǎn)陣參數(shù)，為新材料開發(fā)應(yīng)用提供性能驗(yàn)證指標(biāo)。產(chǎn)品在使用過(guò)程中出現(xiàn)斷裂、變形等失效現(xiàn)象，可能涉及微觀應(yīng)力方面影響，使用XRD可以快捷測(cè)定微觀應(yīng)力。納米材料由于顆粒細(xì)小,極易形成團(tuán)粒,采用通常的粒度分析儀往往會(huì)給出錯(cuò)誤的數(shù)據(jù)。采用X射線衍射線線寬法(謝樂法)可以測(cè)定納米粒子的平均粒徑。
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在微束熒光分析方面，已可以達(dá)到空間分辨10~50mm，可以開展例如單個(gè)流體地質(zhì)包裹體的無(wú)損成分分析，單個(gè)生物細(xì)胞的無(wú)損成分分析，以及其它領(lǐng)域各種細(xì)微材料的無(wú)損成分分析。利用雙晶單色器和超環(huán)面鏡組合系統(tǒng)的單色光掠入射到樣品的全反射方法。此外，近期擬對(duì)用戶開放過(guò)渡金屬的共振非彈性X射線散射實(shí)驗(yàn)。
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電磁輻射激發(fā)X熒光分析，簡(jiǎn)稱EDXRF。電磁輻射激發(fā)一般用X射線管或X射線熒光分析Fe、238Pu、X射線熒光分析Cd、241、X射線熒光分析Co等放射性同位素作激發(fā)源。這時(shí)它的探測(cè)極限雖不及PIXE，但制樣簡(jiǎn)便，常常可以直接分析原始樣品，而且既能分析低含量樣品，又能分析高含量樣品，因此應(yīng)用更為廣泛。
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X-Ray是利用陰極射線管產(chǎn)生高能量電子與金屬靶撞擊，在撞擊過(guò)程中，因電子突然減速，其損失的動(dòng)能會(huì)以X-Ray形式放出。而對(duì)于樣品無(wú)法以外觀方式檢測(cè)的位置，利用紀(jì)錄X-Ray穿透不同密度物質(zhì)后其光強(qiáng)度的變化，產(chǎn)生的對(duì)比效果可形成影像即可顯示出待測(cè)物之內(nèi)部結(jié)構(gòu)，進(jìn)而可在不破壞待測(cè)物的情況下觀察待測(cè)物內(nèi)部有問(wèn)題的區(qū)域。
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光電倍增管的靈敏度有兩種，一種是陰極靈敏度，另一種是陽(yáng)極靈敏度。陰極靈敏度是指單位光輻射在光陰極上產(chǎn)生光電流的大小，它是由所用光陰極材料決定的。陽(yáng)極靈敏度是指光電倍增管在一定外加電壓作用下單位光輻射產(chǎn)生的陽(yáng)極輸出電流。陽(yáng)極靈敏度是隨著外加電壓大小而改變的。這兩種靈敏度是選用PMT的重要參數(shù)。