膠州結(jié)構(gòu)分析X射線管產(chǎn)地貨源公司
發(fā)布時間：2024-10-03 02:10:52
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對城市空氣質(zhì)量的監(jiān)測是環(huán)境保護的一項重要工作。質(zhì)子X射線熒光分析技術(shù)在這方面同樣可以發(fā)揮它的作用。在對大氣污染的分析過程中，由于該分析技術(shù)可直接對采集在濾膜上的大氣顆粒物樣品進行測量，不需要進行化學(xué)處理，避免了化學(xué)處理過程中可能引起的元素污染或丟失，能很好地保持樣品中元素濃度固有的相關(guān)性。
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X-Ray是利用陰極射線管產(chǎn)生高能量電子與金屬靶撞擊，在撞擊過程中，因電子突然減速，其損失的動能會以X-Ray形式放出。而對于樣品無法以外觀方式檢測的位置，利用紀錄X-Ray穿透不同密度物質(zhì)后其光強度的變化，產(chǎn)生的對比效果可形成影像即可顯示出待測物之內(nèi)部結(jié)構(gòu)，進而可在不破壞待測物的情況下觀察待測物內(nèi)部有問題的區(qū)域。
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三維X射線掃描是以非破壞性X射線透視技術(shù)（簡稱CT），將待測物體做360°自轉(zhuǎn)，通過單一軸面的結(jié)構(gòu)分析X射線管射線穿透被測物體，根據(jù)被測物體各部分對射線的吸收與透射率不同，收集每個角度的穿透圖像，之后利用電腦運算重構(gòu)出待測物體的實體圖像。CT是采用計算機斷層掃描技術(shù)對產(chǎn)品進行無損檢測（NDT）和無損評價（NDE）的手段，利用斷層成像技術(shù)，可實現(xiàn)產(chǎn)品無損可視化測量、組裝瑕疵或材料分析。CT掃描取代傳統(tǒng)的破壞性監(jiān)測和分析，任何方向上的非破壞性切片和成像，不受周圍細節(jié)特征的遮擋，可直接獲得目標特征的空間位置、形狀及尺寸信息。
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在測量不規(guī)則的樣品時，雖然從X射線熒光分析方法上可以對測量進行技術(shù)上的校正，從而滿足實際測量的需要；但這樣做所付出的代價是犧牲測量精度和測量數(shù)據(jù)的可靠性。X射線熒光實際上又是一個表面分析方法，激發(fā)只發(fā)生在試樣的淺表面，須注意分析面相對于整個樣品是否有代表性。此外，樣品的平均粒度和粒度分布是否有變化，樣品中是否存在不均勻的多孔狀態(tài)等。樣品制備過程由于經(jīng)過多步驟操作，還須防止樣品的損失和沾污。
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X射線熒光光譜校正曲線法要求標準樣和樣品的物理化學(xué)形態(tài)、分析元素的濃度范圍盡可能一致。在許多情況下，分折線強度并不隨著其濃度的增加而增加，需對基體進行校正后，方能繪制工作曲線。早期X射線熒光光譜定量分析主要使用校正曲線方法獲得定量分析結(jié)果，以作圖法制定校正曲線。通常以濃度C,為橫坐標，I為縱坐標?，F(xiàn)在則通過計算機用二乘法進行計算，X射線熒光光譜曲線上各數(shù)據(jù)點與曲線上相對應(yīng)的數(shù)據(jù)偏差的平方和。