汕尾熒光分析X射線管制造商哪家好
發(fā)布時間：2024-10-04 02:09:54
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在波長色散X射線光譜儀中，由于使用分光晶體，是的待測元素的分析譜線可以較好分離，故通過使用分辨率較低的流氣式正比計數(shù)器和NaI閃爍技術(shù)器作為X射線探測器。分光晶體與低分辨率探測器的結(jié)合應(yīng)用，使得波長色散X射線光譜儀的整體分辨率要優(yōu)于使用常規(guī)半導(dǎo)體Si探測器的能量色散X射線光譜儀。
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X射線熒光光譜校正曲線法要求標(biāo)準(zhǔn)樣和樣品的物理化學(xué)形態(tài)、分析元素的濃度范圍盡可能一致。在許多情況下，分折線強(qiáng)度并不隨著其濃度的增加而增加，需對基體進(jìn)行校正后，方能繪制工作曲線。早期X射線熒光光譜定量分析主要使用校正曲線方法獲得定量分析結(jié)果，以作圖法制定校正曲線。通常以濃度C,為橫坐標(biāo)，I為縱坐標(biāo)?，F(xiàn)在則通過計算機(jī)用二乘法進(jìn)行計算，X射線熒光光譜曲線上各數(shù)據(jù)點(diǎn)與曲線上相對應(yīng)的數(shù)據(jù)偏差的平方和。
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電磁輻射激發(fā)X熒光分析，簡稱EDXRF。電磁輻射激發(fā)一般用X射線管或X射線熒光分析Fe、238Pu、X射線熒光分析Cd、241、X射線熒光分析Co等放射性同位素作激發(fā)源。這時它的探測極限雖不及PIXE，但制樣簡便，常常可以直接分析原始樣品，而且既能分析低含量樣品，又能分析高含量樣品，因此應(yīng)用更為廣泛。
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X射線熒光光譜法是一個相對分析方法，任何制樣過程和步驟須有非常好的重復(fù)操作可能性；用于制作校準(zhǔn)曲線的標(biāo)準(zhǔn)樣品和分析樣品須經(jīng)過同樣的制樣處理過程。X射線熒光分析儀從根本上來說是一種相對測量儀器，因此在使用過程中，需要定期對儀器進(jìn)行標(biāo)定和校準(zhǔn)。
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熒光分析X射線管X射線熒光分析是確定物質(zhì)中微量元素的種類和含量的一種方法，是利用原級X射線光子或其它微觀粒子激發(fā)待測物質(zhì)中的原子，使之產(chǎn)生次級的特征X射線（X光熒光）而進(jìn)行物質(zhì)成分分析和化學(xué)態(tài)研究。從X射線熒光分析理論上說，對被測量樣品進(jìn)行需要的處理是須的；一般來說，樣品處理的越好，則測量精度就會越高，測量結(jié)果越可靠。在實(shí)際使用過程中，我們應(yīng)該盡量對被測量樣品進(jìn)行需要的物理處理。
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暗電流是指在有光射在光陽極上時光電倍增管的輸出電流。暗電流的產(chǎn)生是由光陰極表面的熱電子發(fā)射及電極之間的所加電壓而產(chǎn)生的漏電流。因此，降低溫度及降壓都能降低暗電流。光電倍增管的暗電流越小，質(zhì)量越好。