汕頭結(jié)構(gòu)分析X射線管批發(fā)價(jià)格
發(fā)布時(shí)間：2024-11-16 02:06:19
汕頭結(jié)構(gòu)分析X射線管批發(fā)價(jià)格
X射線安檢儀是采用X射線掃描成像技術(shù)對(duì)行李進(jìn)行安全檢測(cè)的電子設(shè)備，由X射線發(fā)生器、X射線探測(cè)器、圖像處理系統(tǒng)等部分組成，根據(jù)掃描成像判斷物品的安全性。X射線安檢儀屬于低危險(xiǎn)射線裝置，輻射量遠(yuǎn)遠(yuǎn)小于醫(yī)學(xué)X光機(jī)。通過(guò)安檢X射線管發(fā)射出的射線，對(duì)過(guò)安檢的物品進(jìn)行掃描，排查有危險(xiǎn)的物品。
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熒光分析曲線斜率的大小與基體的質(zhì)量吸收系數(shù)有關(guān)，也就是說(shuō)，質(zhì)量吸收系數(shù)越大，斜率越小。同時(shí)斜率與特征譜線的波長(zhǎng)有關(guān)。小于10nm的短波范圍內(nèi)，斜率居中大于30nm的長(zhǎng)波范圍內(nèi)，斜率低在上述兩者之間時(shí)斜率低，背景也低，因此分析方法靈敏。若校正曲線通過(guò)零點(diǎn)，原則上只要一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)樣便可確定校正曲線。對(duì)于濃度范圍很大的試樣，則至少需要三個(gè)以上的標(biāo)準(zhǔn)樣品。
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熒光分析X射線是確定物質(zhì)中微量元素的種類和含量的一種方法。它用熒光分析X射線管輻射激發(fā)待分析樣品中的原子，使原子發(fā)出標(biāo)識(shí)X射線（熒光），通過(guò)測(cè)量這些標(biāo)識(shí)X射線的能量和強(qiáng)度來(lái)確定物質(zhì)中微量元素的種類和含量。根據(jù)激發(fā)源的不同，可分成帶電粒子激發(fā)X熒光分析，電磁輻射激發(fā)X熒光分析和電子激發(fā)X熒光分析。
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物質(zhì)結(jié)構(gòu)的分析盡管可以采用中子衍射、電子衍射、紅外光譜、穆斯堡爾譜等方法，但是XRD（X射線衍射）是目前研究晶體結(jié)構(gòu)(如原子或離子及其基團(tuán)的種類和位置分布，晶胞形狀和大小等)有力的方法，而且X射線衍射是人類用來(lái)研究物質(zhì)微觀結(jié)構(gòu)的一種方法。X射線衍射的應(yīng)用范圍非常廣泛，現(xiàn)已滲透到物理、化學(xué)、地球科學(xué)、材料科學(xué)以及各種工程技術(shù)科學(xué)中，成為一種重要的實(shí)驗(yàn)方法和結(jié)構(gòu)分析手段，具有無(wú)損試樣的優(yōu)點(diǎn)。
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不同元素發(fā)出的特征X射線能量和波長(zhǎng)各不相同，因此通過(guò)對(duì)熒光分析X射線管發(fā)出射線的能量或者波長(zhǎng)的測(cè)量即可知道它是何種元素發(fā)出的，進(jìn)行元素的定性分析。同時(shí)樣品受激發(fā)后發(fā)射某一元素的特征X射線強(qiáng)度跟這元素在樣品中的含量有關(guān)，因此測(cè)出它的強(qiáng)度就能進(jìn)行元素的定量分析。因此，X射線熒光光譜儀有兩種基本類型：波長(zhǎng)色散型（WDEXRF）和能量色散型（EDXRF）。
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譜線有Ka、Kb、Lb、La和Ma.可供選擇，通常原子序數(shù)小于42的元素用K系線，大于42的元素用L系線，有時(shí)亦可選M系線。為了便于獲取待測(cè)元素的凈強(qiáng)度，對(duì)使用Si-PIN和Si(Li)探測(cè)器的譜儀，在解譜時(shí)不僅考慮待測(cè)元素，還應(yīng)考慮與待測(cè)元素譜相近的基體中其他元素，特別是重元素L和M系線的干擾。對(duì)于低分辨率譜儀如使用封閉式正比計(jì)數(shù)管的譜儀，通常測(cè)定純?cè)刈V，并以譜的半高寬左右兩側(cè)的能量作為感興趣區(qū)的起點(diǎn)和終點(diǎn)。