深圳熒光分析X射線管生產(chǎn)廠家
發(fā)布時(shí)間：2024-11-16 02:06:20
深圳熒光分析X射線管生產(chǎn)廠家
衍射圖的處理分析系統(tǒng)現(xiàn)代X射線衍射儀都附帶安裝有專用衍射圖處理分析軟件的計(jì)算機(jī)系統(tǒng),它們的特點(diǎn)是自動(dòng)化和智能化。X射線管發(fā)生出來的不是純凈的單色光，包含多種波長(zhǎng)的射線，主要的是K系射線。K系射線是指陰極電子碰撞陽極，使陽極電子產(chǎn)生K激發(fā)，擊走K層電子后，L層或M層電子填充K層電子而產(chǎn)生的X射線。
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能量色散光譜儀定量分析條件的選擇與波長(zhǎng)色散光譜儀定量分析條件的選擇相比較，相對(duì)于所用儀器來說要簡(jiǎn)單一些，但能量色散光譜儀種類繁多，如有用二次靶的，也有用偏振光的，它們各有特色，因此應(yīng)在熟悉所用儀器性能的條件下，就其特性選擇適合的分析條件，以滿足分析要求。它的條件選擇主要有提供給X射線管的管壓和管電流、譜線、濾光片的選擇和測(cè)定時(shí)間。
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X射線安檢儀是通過安檢X射線管發(fā)射Ｘ射線掃描物品，利用X射線能穿透的特點(diǎn)，對(duì)乘客的物品掃描，檢查是否有違禁物品。我們常說的醫(yī)用X光與CT，就是利用電離輻射中的電磁波X射線能穿透人體的特點(diǎn)，可以讓影像科醫(yī)生通過X射線穿透人體后形成的圖像，間接地觀察人體內(nèi)部結(jié)構(gòu)。
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為了滿足現(xiàn)代企業(yè)管理和生產(chǎn)要求，須對(duì)生產(chǎn)過程中的原材料的化學(xué)成分進(jìn)行及時(shí)、準(zhǔn)確的分析和控制，傳統(tǒng)的化學(xué)分析方法已經(jīng)完全不能滿足生產(chǎn)過程的需要。目前眾多新型冶煉企業(yè)為了達(dá)到良好的質(zhì)量控制指標(biāo)，大都配備了相應(yīng)的分析儀。由于化學(xué)分析方法分析速度的限制，實(shí)際上，采用化學(xué)分析方法對(duì)于生產(chǎn)過程來說只有事后監(jiān)測(cè)的意義，而沒有控制意義，往往是當(dāng)我們發(fā)現(xiàn)某個(gè)控制環(huán)節(jié)有問題時(shí)，已經(jīng)造成了嚴(yán)重的后果，給工廠帶來了很大的損失。
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如用Si-PIN探測(cè)器的譜儀，以Rh靶作為激發(fā)光源，分析水泥中鎂、鋁、硅、硫和鉀時(shí)，選擇4kv,0.6mA,其目的是使高含量鈣不被激發(fā)，而測(cè)鈣、鈦和鐵時(shí)，選擇13kv,0.lmA，并選用200pm鋁作濾光片，除去X射線管發(fā)射的RHL_線，以便降低鋁、硅等元素的X射線熒光強(qiáng)度，從而提高鈣和鐵等元素的X射線熒光強(qiáng)度。
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三維X射線掃描是以非破壞性X射線透視技術(shù)（簡(jiǎn)稱CT），將待測(cè)物體做360°自轉(zhuǎn)，通過單一軸面的結(jié)構(gòu)分析X射線管射線穿透被測(cè)物體，根據(jù)被測(cè)物體各部分對(duì)射線的吸收與透射率不同，收集每個(gè)角度的穿透圖像，之后利用電腦運(yùn)算重構(gòu)出待測(cè)物體的實(shí)體圖像。CT是采用計(jì)算機(jī)斷層掃描技術(shù)對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行無損檢測(cè)（NDT）和無損評(píng)價(jià)（NDE）的手段，利用斷層成像技術(shù)，可實(shí)現(xiàn)產(chǎn)品無損可視化測(cè)量、組裝瑕疵或材料分析。CT掃描取代傳統(tǒng)的破壞性監(jiān)測(cè)和分析，任何方向上的非破壞性切片和成像，不受周圍細(xì)節(jié)特征的遮擋，可直接獲得目標(biāo)特征的空間位置、形狀及尺寸信息。